國際商業機器公司E·勒特舍爾獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉國際商業機器公司申請的專利解譯來自陣列元表面的光信號獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116420099B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202180061388.4，技術領域涉及：G02B1/00；該發明授權解譯來自陣列元表面的光信號是由E·勒特舍爾;G·迪特曼設計研發完成，并于2021-07-12向國家知識產權局提交的專利申請。
本解譯來自陣列元表面的光信號在說明書摘要公布了：一種系統和方法解譯用一組光學設備1,1a,1b,1c進行的光學表征檢查。每個設備包括光學元表面結構12的一個或多個陣列21?26并且具有定制成具有使它們彼此不同的不同特性的陣列21?26。分別訪問捕獲每個設備1的物理指紋的第一數據和第二數據以及用每個設備1執行的光學表征檢查的結果。所執行的檢查的結果受陣列21?26的相應不同特性的影響。基于所訪問的第一數據標識每個設備1，這使得可以獲得與所標識的設備相關聯的讀出鍵。該讀出鍵解釋不同特性中的相應特性。最后，根據所獲得的讀出鍵來解譯第二數據以闡明光學表征檢查的結果。本發明還涉及相關的計算機程序產品。
本發明授權解譯來自陣列元表面的光信號在權利要求書中公布了：1.一種用于解譯光學表征檢查的方法，其中所述光學表征檢查由一組設備執行： 其中，該組設備中的每個設備： 包括一個或多個光學元表面結構陣列；以及 有具有不同特性的相應陣列； 所述方法包括，對于該組中的每個設備： 分別訪問捕獲每個設備的物理指紋的第一數據和第二數據以及用每個設備執行的光學表征檢查的結果，其中，所述結果受到所述不同特性中的相應特性的影響； 基于所訪問的第一數據標識每個設備以獲得與所標識的設備相關聯的讀出鍵，所述讀出鍵解釋所述不同特性中的相應特性； 根據所述讀出鍵，對第二數據進行解譯，以闡明所述光學表征檢查的結果；以及 將所述光學表征檢查的結果發送至檢查設備。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人國際商業機器公司，其通訊地址為：美國紐約；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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