蘇州元腦智能科技有限公司李超獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉蘇州元腦智能科技有限公司申請的專利數據處理方法、裝置、設備、介質和程序產品獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120371595B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510866424.4,技術領域涉及:G06F11/10;該發明授權數據處理方法、裝置、設備、介質和程序產品是由李超;范鵬飛;李德新設計研發完成,并于2025-06-26向國家知識產權局提交的專利申請。
本數據處理方法、裝置、設備、介質和程序產品在說明書摘要公布了:本發明提供了一種數據處理方法,可以應用于計算機技術領域。該數據處理方法包括:響應于數據寫入操作,根據與各校驗盤對應的幾何校驗規則,對寫入數據進行校驗,以將校驗得到的校驗塊存儲至對應的校驗盤,校驗塊與存儲至多個數據盤的寫入數據存在映射關系;若檢測到磁盤發生故障,則根據故障磁盤的類型以及發生故障的磁盤數量,確定恢復方式;基于映射關系,根據恢復方式正向和或逆向調用幾何校驗規則,以恢復故障磁盤的數據。本發明還提供了一種數據處理裝置、設備、介質和程序產品。
本發明授權數據處理方法、裝置、設備、介質和程序產品在權利要求書中公布了:1.一種數據處理方法,其特征在于,應用于磁盤陣列,所述磁盤陣列由多個磁盤組成,所述多個磁盤包括多個數據盤和n個校驗盤,n為大于2的整數,所述方法包括: 響應于數據寫入操作,根據與各所述校驗盤對應的幾何校驗規則,對寫入數據進行校驗,以將校驗得到的校驗塊存儲至對應的校驗盤,所述校驗塊與存儲至所述多個數據盤的寫入數據存在映射關系,所述幾何校驗規則包括橫向校驗規則、斜向校驗規則和反斜向校驗規則,所述橫向校驗規則針對同一行或同一橫向維度上的數據塊進行校驗計算,所述斜向校驗規則根據數據塊在磁盤陣列中斜向分布的路徑,按特定斜率的反對角線方向對數據塊進行組合校驗,所述反斜向校驗規則根據數據塊在磁盤陣列中反斜向分布的路徑,按與所述特定斜率相反的斜率的正對角線方向對數據塊進行組合校驗; 若檢測到所述磁盤發生故障,則根據故障磁盤的類型以及發生故障的磁盤數量,確定恢復方式; 基于所述映射關系,根據所述恢復方式正向和或逆向調用所述幾何校驗規則,以恢復所述故障磁盤的數據。
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