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龍圖騰網獲悉上海東風汽車專用件有限公司申請的專利一種可調節坐標的倒置金相樣件檢測工裝獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN117250194B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202311183983.2，技術領域涉及：G01N21/84；該發明授權一種可調節坐標的倒置金相樣件檢測工裝是由湯斌杰;唐曉臣;張艷;馮軍設計研發完成，并于2023-09-13向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種可調節坐標的倒置金相樣件檢測工裝在說明書摘要公布了：本發明涉及金相檢測技術領域，特別公開了一種可調節坐標的倒置金相樣件檢測工裝，包括檢測基座和金相顯微鏡本體，金相顯微鏡本體包括粗同軸調焦塊、細同軸調焦塊、轉軸目鏡觀察筒、三目接筒、三目接筒、光源燈箱、濾鏡卡槽、承載座、物鏡轉盤、物鏡，金相顯微鏡本體的側端部設置有粗同軸調焦塊和細同軸調焦塊，金相顯微鏡本體的上段的側端部設置有轉軸目鏡觀察筒，金相顯微鏡本體的上端部設置有三目接筒，金相顯微鏡本體的上端部設置有光源燈箱。本發明通過將倒置金相樣件檢測工裝設計為坐標可調，使得在對待檢測材料進行檢測時，可以進行移動坐標標注，從而可以在檢測時精確移動待檢測材料，避免了重復觀測，進而提高了檢測效率。

本發明授權一種可調節坐標的倒置金相樣件檢測工裝在權利要求書中公布了：1.一種可調節坐標的倒置金相樣件檢測工裝，包括檢測基座（1）和金相顯微鏡本體（2），其特征在于，所述金相顯微鏡本體（2）包括粗同軸調焦塊（21）、細同軸調焦塊（22）、轉軸目鏡觀察筒（23）、三目接筒（24）、光源燈箱（25）、濾鏡卡槽（26）、承載座（27）、物鏡轉盤（28）、物鏡（29），所述金相顯微鏡本體（2）的側端部設置有粗同軸調焦塊（21）和細同軸調焦塊（22），所述金相顯微鏡本體（2）的上段的側端部設置有轉軸目鏡觀察筒（23），所述金相顯微鏡本體（2）的上端部設置有三目接筒（24），所述金相顯微鏡本體（2）的上端部設置有光源燈箱（25），所述金相顯微鏡本體（2）的上端部設置有濾鏡卡槽（26），所述金相顯微鏡本體（2）的上端部設置有承載座（27），所述承載座（27）的上端部轉動安裝有物鏡轉盤（28），所述物鏡轉盤（28）的上端部設置有至少兩個物鏡（29），所述承載座（27）的側端部固定安裝有兩個承載塊（3），兩個所述承載塊（3）的上端部均轉動安裝有螺紋轉筒（31），兩個所述螺紋轉筒（31）的內側壁均螺紋安裝有螺紋轉軸（32），兩個所述螺紋轉軸（32）的上端部固定安裝有同一個載物臺（33），所述載物臺（33）的上端部設置有水滴載物片（34），所述載物臺（33）的上端部開設有四個平置槽（35），所述載物臺（33）的上方設置有移動板（36），所述移動板（36）的下端部滾動安裝有四個滾珠（37），所述移動板（36）的側端部固定安裝有標注塊（38），所述標注塊（38）的上端部螺紋安裝有螺栓（39）,所述標注塊（38）的側端部固定安裝有兩個標注指針（4），所述載物臺（33）的上端部開設有標注槽口（41）； 其中，所述三目接筒（24）的位置位于轉軸目鏡觀察筒（23）的一側，所述承載座（27）的位置位于遠離粗同軸調焦塊（21）的一側，所述濾鏡卡槽（26）的位置位于承載座（27）的一側，所述光源燈箱（25）的位置位于濾鏡卡槽（26）的一側，兩個所述承載塊（3）的位置均位于承載座（27）中段的兩個側端部，兩個所述螺紋轉軸（32）貫穿安裝于螺紋轉筒（31）的上端部，四個所述平置槽（35）的位置均等距排列在水滴載物片（34）的四周，兩個所述標注指針（4）呈九十度位置排列，所述標注槽口（41）的一側設置有數值標注，所述螺栓（39）可與標注槽口（41）進行接觸，兩個所述標注指針（4）均位于有數值標注的一側。

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