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龍圖騰網(wǎng)獲悉浙江理工大學(xué)申請(qǐng)的專利一種納米薄膜動(dòng)態(tài)熱膨脹性質(zhì)的測量方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN119715666B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202411909612.2，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N25/16；該發(fā)明授權(quán)一種納米薄膜動(dòng)態(tài)熱膨脹性質(zhì)的測量方法是由左彪;羅錦添;葉琨;李嘉晨設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2024-12-24向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種納米薄膜動(dòng)態(tài)熱膨脹性質(zhì)的測量方法在說明書摘要公布了：本申請(qǐng)公開了一種納米薄膜動(dòng)態(tài)熱膨脹性質(zhì)的測量方法，涉及測量技術(shù)領(lǐng)域，該方法應(yīng)用于一種設(shè)置有控溫?zé)崤_(tái)的橢偏儀；方法包括：按照諧振式溫度調(diào)制程序?qū)崤_(tái)上的薄膜樣品進(jìn)行控溫，利用橢偏儀獲取薄膜的厚度?時(shí)間曲線；基于獲得的厚度?時(shí)間曲線，利用數(shù)字信號(hào)處理方法確定薄膜厚度響應(yīng)溫度調(diào)制程序而產(chǎn)生的諧振式動(dòng)態(tài)變化的振幅和相位，得到振幅?時(shí)間曲線和相位?時(shí)間曲線；進(jìn)而確定薄膜樣品的表觀熱膨脹系數(shù)、可逆熱膨脹系數(shù)和不可逆熱膨脹系數(shù)；本申請(qǐng)通過設(shè)置溫度調(diào)制程序，測量薄膜樣品的熱膨脹行為，從而精確測定薄膜樣品的可逆熱膨脹系數(shù)及其實(shí)部和虛部，以及不可逆熱膨脹系數(shù)，從而準(zhǔn)確反映納米薄膜的分子運(yùn)動(dòng)和熱弛豫行為。

本發(fā)明授權(quán)一種納米薄膜動(dòng)態(tài)熱膨脹性質(zhì)的測量方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種納米薄膜動(dòng)態(tài)熱膨脹性質(zhì)的測量方法，其特征在于，所述納米薄膜動(dòng)態(tài)熱膨脹性質(zhì)的測量方法應(yīng)用于一種設(shè)置有控溫?zé)崤_(tái)的橢偏儀；所述控溫?zé)崤_(tái)用于搭載薄膜樣品；所述控溫?zé)崤_(tái)還用于按照溫度調(diào)制程序?qū)Ρ∧悠愤M(jìn)行控溫；所述溫度調(diào)制程序包括疊加設(shè)置的線性變溫程序和諧振式的溫度調(diào)制； 所述納米薄膜動(dòng)態(tài)熱膨脹性質(zhì)的測量方法包括： 按照溫度調(diào)制程序，對(duì)控溫?zé)崤_(tái)上的薄膜樣品進(jìn)行控溫，獲取薄膜樣品的厚度-時(shí)間曲線； 基于溫度調(diào)制程序的平均溫度和頻率，以及薄膜樣品的厚度-時(shí)間曲線，利用數(shù)值積分平均方法確定薄膜樣品的表觀厚度-時(shí)間曲線； 基于溫度調(diào)制程序的平均溫度和頻率，以及薄膜樣品的厚度-時(shí)間曲線，利用數(shù)字信號(hào)處理方法確定薄膜樣品的振幅-時(shí)間曲線和相位-時(shí)間曲線；所述振幅-時(shí)間曲線和所述相位-時(shí)間曲線均用于描述薄膜樣品的厚度響應(yīng)于諧振式溫度調(diào)制而產(chǎn)生的諧振式動(dòng)態(tài)變化； 基于溫度調(diào)制程序的平均溫度和頻率，以及薄膜樣品的表觀厚度-時(shí)間曲線，利用數(shù)值求導(dǎo)公式確定溫度調(diào)制程序下薄膜樣品的表觀熱膨脹系數(shù)； 基于溫度調(diào)制程序的平均溫度、頻率、振幅和相位，以及薄膜樣品的振幅-時(shí)間曲線和相位-時(shí)間曲線，利用可逆熱膨脹公式確定溫度調(diào)制程序下薄膜樣品的可逆熱膨脹系數(shù)，以及可逆熱膨脹系數(shù)的實(shí)部和虛部； 基于薄膜樣品的表觀熱膨脹系數(shù)和可逆熱膨脹系數(shù)，利用差公式確定溫度調(diào)制程序下薄膜樣品的不可逆熱膨脹系數(shù)。

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