沈陽度維科技開發有限公司趙霄獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉沈陽度維科技開發有限公司申請的專利一種航天推進室增材制造流動通道粗糙度優化方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120406174B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510912015.3,技術領域涉及:G05B13/04;該發明授權一種航天推進室增材制造流動通道粗糙度優化方法是由趙霄;寧國山;侯宇桐;李文利;杜明川設計研發完成,并于2025-07-03向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種航天推進室增材制造流動通道粗糙度優化方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種航天推進室增材制造流動通道粗糙度優化方法,包括如下步驟:通過設定制造參數擾動策略,執行多組增材制造實驗,獲取通道內壁的粗糙度形成序列,利用灰色預測模型生成粗糙度變化趨勢,并結合壁面多個位置的粗糙度分布數據,引導狄利克雷過程建立通道內壁粗糙度的空間分布模型,通過融合趨勢參數與空間特征,采集制造過程中的實時粗糙度數據,構建誤差反饋機制,實現對粗糙度預測結果的聯動修正,最終生成控制制造路徑的指令,用于引導加工過程,以實現航天推進室流動通道內壁粗糙度的精細控制與優化。本發明實現了粗糙度演化規律建模、空間分布識別與制造路徑協同調節的聯動優化。
本發明授權一種航天推進室增材制造流動通道粗糙度優化方法在權利要求書中公布了:1.一種航天推進室增材制造流動通道粗糙度優化方法,其特征在于,包含以下步驟: 設定制造參數擾動策略,在多個擾動組下執行增材成形實驗,采集對應通道內壁粗糙度形成序列; 基于采集的粗糙度形成序列構建灰色預測模型,通過微分方程形式生成粗糙度隨擾動條件變化的粗糙度時間演化模型,并輸出粗糙度趨勢參數和粗糙度預測值序列; 采集通道壁面不同位置的粗糙度分布數據,并聯合粗糙度趨勢參數作為先驗輸入,引導狄利克雷過程建立空間概率分布模型; 建立粗糙度趨勢參數與空間概率分布模型之間的融合機制,輸出的粗糙度趨勢參數與粗糙度空間概率分布特征; 在增材制造過程中采集實時粗糙度監測數據,將實時粗糙度監測數據與粗糙度預測值序列進行對比,計算預測殘差; 基于預測殘差構建殘差反饋機制,并在融合機制中引入殘差反饋機制驅動聯動優化過程; 基于融合機制輸出的粗糙度趨勢參數與粗糙度空間概率分布特征生成制造路徑控制指令。
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