深圳市華普微電子股份有限公司;無錫澤太微電子有限公司鄧建元獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉深圳市華普微電子股份有限公司;無錫澤太微電子有限公司申請的專利一種消除隔離器芯片輻射對射頻系統干擾的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120567172B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202511058944.9,技術領域涉及:H03L7/099;該發明授權一種消除隔離器芯片輻射對射頻系統干擾的方法是由鄧建元;阮慶瑜設計研發完成,并于2025-07-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種消除隔離器芯片輻射對射頻系統干擾的方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種消除隔離器芯片輻射對射頻系統干擾的方法,可以在芯片晶圓測試或封裝后的成品測試階段,測量低頻RC振蕩器的頻率,并根據客戶產品通信系統的需求,靈活燒錄存儲單元相應的頻率控制信號,以調整隔離器芯片的本振頻率及其諧波頻率,使其避開客戶的通信頻段。該方法采用低溫漂的RC振蕩電路結合鎖頻環技術,保證了本振信號在不同工藝偏差和全溫范圍內頻率偏差控制在3%以內。此外,通過精確調節高頻振蕩器的頻率直至其接近目標頻率,并將這些配置參數存入非易失性存儲模塊,使得隔離器芯片在實際工作過程中不會對其它通信系統產生干擾,從而提高了整個通信系統的穩定性和可靠性。
本發明授權一種消除隔離器芯片輻射對射頻系統干擾的方法在權利要求書中公布了:1.一種消除隔離器芯片輻射對射頻系統干擾的方法,其特征在于,包括以下步驟: 使隔離器芯片進入校準測試模式,所述校準測試模式通過電源檢測電路識別電壓碼流m0觸發; 在所述校準測試模式下,通過芯片的通道A輸出低頻振蕩器頻率f_ck; 測量所述低頻振蕩器頻率f_ck,根據目標本振頻率f_lo計算頻率控制信號f_ctl; 使芯片進入燒錄模式,將所述頻率控制信號f_ctl燒錄至芯片的存儲模塊; 使芯片進入工作模式,基于燒錄后的頻率控制信號f_ctl控制高頻振蕩器輸出避開通信頻段的本振頻率ck_lo,包括:采用鎖頻環技術控制本振頻率ck_lo,具體包括:對低頻振蕩器頻率f_ck進行分頻生成時間窗口信號Twin;在時間窗口信號Twin的高電平期間對高頻振蕩器時鐘計數;比較所述高頻振蕩器時鐘計數的計數值cnt11:0與燒錄的f_ctl11:0;根據比較結果調節高頻振蕩器控制碼c7:0使ck_lo趨近目標頻率。
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