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龍圖騰網獲悉深圳愛彼電路股份有限公司申請的專利PCB電路板缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119379662B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411652034.9，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權PCB電路板缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質是由周達廣;覃寧;陳莎;何運炎設計研發完成，并于2024-11-19向國家知識產權局提交的專利申請。

本PCB電路板缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質在說明書摘要公布了：本發明涉及圖像處理技術領域，公開了一種PCB電路板缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質，所述方法包括獲取PCB電路板圖像數據；將所述PCB電路板圖像數據輸入到預先訓練完成的多光源同步成像模型，得到多光源融合圖像；對所述多光源融合圖像進行圖像優化處理，得到降噪灰度圖像；根據所述降噪灰度圖像，進行區域劃分和特征提取操作，得到各區域特征；將所述各區域特征輸入到預先訓練完成的多尺度動態缺陷檢測模型，得到PCB缺陷檢測情況。本方法具有以下效果：通過多光源同步成像模型的應用，有效減少了單一光源成像條件下的陰影、反光等影響，提高了圖像的清晰度和細節呈現，提升了檢測系統的環境適應性和檢測精度。

本發明授權PCB電路板缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種PCB電路板缺陷檢測方法，其特征在于，包括： 獲取PCB電路板圖像數據； 將所述PCB電路板圖像數據輸入到預先訓練完成的多光源同步成像模型，得到多光源融合圖像； 對所述多光源融合圖像進行圖像優化處理，得到降噪灰度圖像； 根據所述降噪灰度圖像，進行區域劃分和特征提取操作，得到各區域特征； 將所述各區域特征輸入到預先訓練完成的多尺度動態缺陷檢測模型，得到PCB缺陷檢測情況； 其中，所述將所述PCB電路板圖像數據輸入到預先訓練完成的多光源同步成像模型，得到多光源融合圖像，包括： 根據所述PCB電路板圖像數據進行光源標定與強度校準操作，得到多光源強度調整參數； 根據所述多光源強度調整參數，對所述PCB電路板圖像數據進行光源調整操作，得到多光源下成像數據； 其中，所述根據所述PCB電路板圖像數據進行光源標定與強度校準操作，得到多光源強度調整參數，包括： 通過以下公式得到各像素光強值： 其中是像素位置處的光強值，是各光源的初始強度，是光強衰減系數，是第個光源到像素位置的距離， 其中為第i個光源在橫坐標上的位置，為第i個光源在縱坐標上的位置，為第i個光源在深度方向上的位置； 通過以下公式得到各像素點的多光源強度調整參數： 其中表示第個像素點的多光源強度調整參數，是預設的均勻光強值,是像素位置像素的亮度值，是光源的初始強度，是衰減系數，是從像素到第個光源的距離，是所有N個光源在像素位置上的總光強值。

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