哈爾濱工業大學(深圳)(哈爾濱工業大學深圳科技創新研究院)顧釗銓獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉哈爾濱工業大學(深圳)(哈爾濱工業大學深圳科技創新研究院)申請的專利觸發式光學對抗攻擊方法、系統、電子設備及存儲介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120088628B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510558814.5,技術領域涉及:G06V20/00;該發明授權觸發式光學對抗攻擊方法、系統、電子設備及存儲介質是由顧釗銓;林泓安;李若南;譚昊;張鈞建;吳世彬;李金龍;張志強設計研發完成,并于2025-04-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本觸發式光學對抗攻擊方法、系統、電子設備及存儲介質在說明書摘要公布了:本發明公開了一種觸發式光學對抗攻擊方法、系統、電子設備及存儲介質,方法包括基于損失函數優化對抗補丁,并設計一個觸發器,利用光束照射對抗補丁的指定區域,激活對抗補丁的對抗性,實現對自動駕駛目標檢測模型的攻擊,其中,所述損失函數包括缺少光束在指定區域時對抗補丁的第一損失函數和存在光束疊加到對抗補丁指定區域時的第二損失函數,用于在光束疊加與否的情況下控制對抗補丁的對抗性攻擊效果。本發明方法能實現對自動駕駛目標檢測模型的攻擊。
本發明授權觸發式光學對抗攻擊方法、系統、電子設備及存儲介質在權利要求書中公布了:1.一種觸發式光學對抗攻擊方法,其特征在于,所述方法包括基于損失函數優化對抗補丁,并設計一個觸發器,利用光束照射對抗補丁的指定區域,激活對抗補丁的對抗性,實現對自動駕駛目標檢測模型的攻擊,其中,所述損失函數包括缺少光束在指定區域時對抗補丁的第一損失函數和存在光束疊加到對抗補丁指定區域時的第二損失函數,用于在光束疊加與否的情況下控制對抗補丁的對抗性攻擊效果,所述損失函數具體表達式為:,表示第一損失函數,表示第二損失函數,、表示權重,、均包括交叉熵損失、定位損失和置信度損失。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人哈爾濱工業大學(深圳)(哈爾濱工業大學深圳科技創新研究院),其通訊地址為:518000 廣東省深圳市南山區桃源街道深圳大學城哈爾濱工業大學校區;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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