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龍圖騰網獲悉北京航空航天大學申請的專利基于外插的近場天線陣列單元幅度相位校準系統及方法獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116298553B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202310375985.5，技術領域涉及：G01R29/10；該發(fā)明授權基于外插的近場天線陣列單元幅度相位校準系統及方法是由唐元華;王正鵬設計研發(fā)完成，并于2023-04-11向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于外插的近場天線陣列單元幅度相位校準系統及方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明涉及基于外插的近場天線陣列單元幅度相位校準系統及方法，探頭天線在待測陣列天線近場范圍和陣列單元遠場范圍內，逐一對陣列單元進行校準測量，測量過程中，使用掃描架輔助探頭天線進行掃描，用矢量網絡分析儀記錄探頭天線接收到的各個陣列單元的輻射信號，將記錄的復數信號拆分成幅度和相位，根據測量過程中陣列單元和探頭天線的相對位置關系，使用自由空間傳輸函數對其進行補償后，使用最小二乘法對幅度和相位信號做二次曲線擬合，然后進行外插處理，對外插后的曲線加以比較并計算出各個單元的初始激勵完成校準。本發(fā)明降低了校準測量對掃描架尺寸的需求，為雷達散射截面RCS的測量降低成本，提升測試效率。

本發(fā)明授權基于外插的近場天線陣列單元幅度相位校準系統及方法在權利要求書中公布了：1.一種基于外插的近場天線陣列單元幅度相位校準系統，其特征在于：包括待測的陣列天線、探頭天線、掃描架、幅相調控網絡和矢量網絡分析儀； 探頭天線放置于待測陣列天線近場范圍內，待測陣列天線單元的遠場范圍內的掃描架上；待測陣列天線和掃描架的距離為R，R應小于為待測陣列天線的遠場范圍，其中D為待測陣列天線口徑，λ為待測陣列天線工作頻率下對應的波長； 幅相調控網絡的輸出分別接至待測天線的每個陣列單元上，用以賦予各個陣列單元激勵的幅度和相位；使用單個探頭天線對待測天線陣列中各個陣列單元進行掃描，在對某個陣列單元測量時僅該陣列單元處于開啟狀態(tài)，其余陣列單元都處于關閉狀態(tài)，即控制幅相調控網絡將待測的陣列單元設為開啟狀態(tài)，將其余陣列單元均設置為關閉狀態(tài)；探頭天線的掃描區(qū)域為L，L在0.4D～0.6D范圍內，即測量時探頭天線掃描區(qū)域不需要覆蓋整個待測陣列天線口徑；采用空口測量的方式，控制探頭天線在掃描架上以固定間距運動，使用矢量網絡分析儀記錄探頭天線收到的測試信號； 將矢量網絡分析儀接收到的復數信號拆分成幅度和相位，根據自由空間傳輸函數和二次曲線的差別對幅度和相位進行補償，該二次曲線由自由空間傳輸函數在Ω的范圍使用最小二乘法擬合得到，Ω是探頭天線和待測陣列天線單元相對位置形成的區(qū)間；再根據探頭天線和待測天線的陣列單元的相對位置使用最小二乘法用二次曲線擬合幅度和相位曲線，得到各單元對應幅度相位曲線的擬合二次曲線的系數，再根據系數將二次曲線外插至Ω范圍；對比待測天線的各個陣列單元外插后的幅度和相位曲線，計算待測天線中各個陣列單元的初始激勵，即初始幅度和初始相位，從而完成基于外插的近場天線陣列單元幅度相位校準。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京航空航天大學，其通訊地址為：100191 北京市海淀區(qū)學院路37號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。