中國科學院長春光學精密機械與物理研究所譚鑫獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利一種層析顯微鏡的色差校正方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115826217B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202211489125.6,技術領域涉及:G02B21/04;該發明授權一種層析顯微鏡的色差校正方法是由譚鑫;李徽;馬振予;焦慶斌;許亮;楊名宇;馬頂;姜思佳;李宇航;裴健;張薇;張嘉航;劉思琪設計研發完成,并于2022-11-25向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種層析顯微鏡的色差校正方法在說明書摘要公布了:本發明涉及光學成像技術領域,具體涉及一種層析顯微鏡的色差校正方法,包括如下步驟:S1:在顯微鏡的成像光路上加入二次相位光柵、閃耀光柵、反射鏡和筒鏡;其中閃耀光柵包括與二次相位光柵的衍射級對應的多個部分;S2:將待觀察樣本置于顯微物鏡的物方焦平面處,將二次相位光柵置于顯微物鏡的像方焦平面處;S3:入射光先通過顯微物鏡再依次進入二次相位光柵、閃耀光柵、反射鏡和筒鏡內,最后在CCD探測器上成像;二次相位光柵處的光波分成三束衍射光波并分別投射至閃耀光柵的上部、中部和下部,通過色散相減方式實現色差的校正。本發明結構簡單、制造成本低,色差校正效果好,光波的投射能量高。
本發明授權一種層析顯微鏡的色差校正方法在權利要求書中公布了:1.一種層析顯微鏡的色差校正方法,其特征在于,包括如下步驟: S1:在顯微鏡的成像光路上加入二次相位光柵(2)、閃耀光柵(3)、反射鏡(4)和筒鏡(5);其中閃耀光柵(3)包括與二次相位光柵(2)的衍射級對應的多個部分; 所述二次相位光柵(2)與閃耀光柵(3)采用相同的材料制作,通過閃耀光柵3實現色差的補償,通過反射鏡4實現層析圖像的分離; S2:將待觀察樣本置于顯微物鏡(1)的物方焦平面處,將二次相位光柵(2)置于顯微物鏡(1)的像方焦平面處; S3:入射光先通過顯微物鏡(1)再依次進入二次相位光柵(2)、閃耀光柵(3)、反射鏡(4)和筒鏡(5)內,最后在CCD探測器(12)上成像; 步驟S3中的光波的光路路徑具體為: S31:入射光波從顯微物鏡(1)的物方焦平面進入; S32:進入顯微物鏡(1)內的入射光波再進入二次相位光柵(2); S33:二次相位光柵(2)處的光波分成三束衍射光波并分別投射至閃耀光柵(3)的上部(6)、中部(7)和下部(8),此時進入閃耀光柵(3)的三個圖像在閃耀光柵(3)面上彼此分離; S34:經閃耀光柵(3)后的三束衍射光均具有相同的衍射角且平行投射至反射鏡(4)上;三束衍射光波對應三個不同的反射鏡(4),通過調整反射鏡(4)的傾角對光路方向進行控制; S35:三束衍射光波經反射鏡(4)投射至筒鏡(5)上; S36:三束衍射光波經筒鏡(5)進入CCD探測器(12)上成像。
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