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龍圖騰網(wǎng)獲悉西安近代化學研究所申請的專利一種單個散粒體力學性能與細觀結(jié)構(gòu)同步表征的方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN115901579B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202211524345.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N15/10；該發(fā)明授權(quán)一種單個散粒體力學性能與細觀結(jié)構(gòu)同步表征的方法是由王芳芳;王瓊;周文靜;賈林;張林軍;劉文亮;于思龍設(shè)計研發(fā)完成，并于2022-11-30向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種單個散粒體力學性能與細觀結(jié)構(gòu)同步表征的方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種單個散粒體力學性能與細觀結(jié)構(gòu)同步表征的方法，該方法適合炸藥散粒體、其他含能材料晶體或顆粒材料的力學性能與細觀結(jié)構(gòu)同步的表征，其試驗流程包括試樣準備、試樣安裝、力學?光學顯微鏡組合試驗系統(tǒng)參數(shù)調(diào)節(jié)、力學?光學實時監(jiān)測試驗、散粒體的壓縮性能和光學圖像分析、力學性能與細觀結(jié)構(gòu)同步表征等六個步驟；并設(shè)計了一套專用的壓縮試驗夾具，提出了力學性能與細觀結(jié)構(gòu)同步表征的評價依據(jù)。本發(fā)明監(jiān)測了單個散粒體在壓制過程中的形變特性，試驗過程可觀察，試驗條件更加科學、合理，提高了表征的準確性，同時該方法操作簡單，對實驗人員要求較低。

本發(fā)明授權(quán)一種單個散粒體力學性能與細觀結(jié)構(gòu)同步表征的方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種單個散粒體力學性能與細觀結(jié)構(gòu)同步表征的方法，其特征在于，包括以下步驟： 步驟一，試樣準備：將散粒體粉碎處理成能通過篩孔為5.0mm篩子的顆粒，并剔除掉通過篩孔0.2mm篩子的細小顆粒；對于不需要粉碎處理就可以通過篩孔5.0mm篩子的散粒體，采用原樣進行試驗； 步驟二，試樣安裝：在力學載臺專用的壓縮試驗夾具的散粒體粘貼面粘貼雙面膠，將單個散粒體放置在雙面膠上，起到固定作用，再將壓縮試驗夾具通過螺母固定到力學載臺上，最后將力學載臺放置在光學顯微鏡的載物臺上； 步驟三，力學-光學顯微鏡組合系統(tǒng)參數(shù)調(diào)節(jié)：根據(jù)光學顯微鏡物鏡倍數(shù)，調(diào)節(jié)光學顯微鏡物鏡的工作距離和放大倍數(shù)，同時調(diào)節(jié)光源方向、對比度、采集圖像所需的采集間隔、采集時間；設(shè)置力學試驗系統(tǒng)的測試速率、采樣間隔時間、壓縮模式參數(shù)； 步驟四，力學-光學實時監(jiān)測試驗：同時點擊力學載臺驅(qū)動按鈕和光學顯微鏡實時錄像按鈕，力學試驗軟件記錄散粒體在壓縮載荷力作用下的應(yīng)力、時間、應(yīng)變參數(shù)；光學顯微鏡實時監(jiān)測不同形變狀態(tài)下散粒體的細觀結(jié)構(gòu)形貌，待在光學顯微鏡下觀察到試樣形變完全，停止驅(qū)動按鈕和光學顯微鏡的錄像按鈕； 步驟五，散粒體的壓縮性能和光學圖像分析：通過壓縮力學試驗數(shù)據(jù)，獲得散粒體在壓縮力作用下的力-位移曲線和應(yīng)力-應(yīng)變曲線，同時由光學顯微鏡實時記錄圖像； 通過壓縮力學試驗數(shù)據(jù)得到壓縮應(yīng)力、應(yīng)變公式如下： σ＝Fπ·r2 ε＝Δll 上式中，σ為應(yīng)力，F(xiàn)為散粒體壓縮過程中的力，r為散粒體的半徑，ε為應(yīng)變，Δl為散粒體當前形變量，l是散粒體的粒徑； 通過光學顯微鏡實時記錄圖像能同步獲得不同形變量即不同位移時對應(yīng)的光學圖像； 步驟六，力學性能與細觀結(jié)構(gòu)同步表征：對壓縮力學性能和同步獲得的光學圖像進行同步相關(guān)，當前位移所對應(yīng)的圖像序號的關(guān)系如下： Δl＝lP×n-1 推導出：n＝Δll×P+1＝ε×P+1 上式中，Δl為散粒體當前形變量即當前位移，l是散粒體的粒徑即總位移，P為圖像總數(shù)，n為圖像序號，ε為應(yīng)變； 根據(jù)散粒體的力-位移曲線、應(yīng)力-應(yīng)變曲線中的位移和應(yīng)變，均可推斷出對應(yīng)的光學圖像，分析其細觀結(jié)構(gòu)。

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