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龍圖騰網獲悉蘇州億芯微電子技術有限公司申請的專利基于多源數據分析的二極管生產質量智能監測方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119941024B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510007295.3，技術領域涉及：G06Q10/0639；該發明授權基于多源數據分析的二極管生產質量智能監測方法及系統是由艾俊盛;朱知莉;何強設計研發完成，并于2025-01-03向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于多源數據分析的二極管生產質量智能監測方法及系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于多源數據分析的二極管生產質量智能監測方法及系統，涉及生產監測領域，包括：根據生產設備的歷史數據，獲取設備參數實時標準數據，建立產品合格率預測模型；生成各生產設備的預測產品合格率；獲取待測試產品的性能數據和外觀數據，分別與標準性能閾值和標準形狀數據對比，生成不合格產品數據和待測產品合格率；根據不合格產品數據，生成缺陷產品環境關聯趨勢；根據預測產品合格率和待測產品合格率，確定預測偏差生產設備；結合預測偏差生產設備的實時運行數據、待測試產品的性能數據，生成設備差異指數；將缺陷產品環境關聯趨勢、設備差異指數和設備參數實時標準數據結合，建立多重監測標準。

本發明授權基于多源數據分析的二極管生產質量智能監測方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種基于多源數據分析的二極管生產質量智能監測方法，其特征在于，包括： 獲取并分析二極管生產計劃，生成標準性能閾值和標準形狀數據； 收集生產設備的歷史數據，獲取設備參數實時標準數據，建立設備的產品合格率預測模型； 獲取各生產設備的實時環境數據和工藝參數數據，結合設備的產品合格率預測模型，生成各生產設備的預測產品合格率； 收集待測試產品的性能數據和外觀數據，并分別與標準性能閾值和標準形狀數據進行對比，生成不合格產品數據和待測產品合格率； 根據生產設備的實時環境數據和不合格產品數據，生成缺陷產品環境關聯趨勢； 根據預測產品合格率和待測產品合格率，確定預測偏差生產設備； 獲取預測偏差生產設備的實時運行數據，結合待測試產品的性能數據和外觀數據，生成設備差異指數； 結合設備參數實時標準數據、缺陷產品環境關聯趨勢和設備差異指數，建立多重監測標準，對設備的實時數據進行監測；所述建立設備的產品合格率預測模型，具體包括： 獲取二極管的生產流程和各生產設備的生產作業手冊，提取各生產流程的特征步驟和各生產設備的參考參數，所述生產設備的參考參數包括設備參數和環境參數； 將各生產設備的歷史數據，分別按工藝參數和設備環境數據進行分類，生成工藝參數分類數據和設備環境數據分類數據； 按時間為基準，對工藝參數分類數據和設備環境數據分類數據進行整理，列舉出不同工藝參數與產品合格率的對應關系，以及不同設備環境數據與產品合格率的對應關系； 根據不同工藝參數與產品合格率的對應關系，以及不同設備環境數據與產品合格率的對應關系，分別獲取工藝參數差值與設備環境數據差值對應的產品合格率變化值并求平均值，獲取工藝參數發生變化后對應產品合格率的變化程度，以及設備環境數據發生變化后對應產品合格率的變化程度，分別記作產品合格率對工藝參數敏感度和產品合格率對生產設備環境敏感度； 將生產流程特征步驟對應的設備記作特征設備，將特征設備的歷史數據以周為時間區間進行分類，生成時間周期歷史數據，所述時間周期歷史數據包括特征設備工藝參數時間序列數據和產品質量數據； 分析時間周期歷史數據，以一個小時作為一個分析節點，將產品質量數據按分析節點進行對應，以分析節點為橫軸，產品質量數據為縱軸繪制產品質量變化曲線，生成特征設備的時間波動趨勢； 根據特征設備的時間波動趨勢和生產設備的參考參數，生成設備參數實時標準數據，所述設備參數實時標準數據包括設備參數實時標準數據和設備環境實時標準數據； 以設備參數實時標準數據為基準，分別將各生產設備的實時環境數據和工藝參數數據與設備參數實時標準數據進行比對，獲取實時環境數據和工藝參數數據均大于設備參數實時標準數據的生產設備在生產設備總數中的占比，生成生產設備的第一產品預測合格率； 以生產設備的產品合格率為基準，分析生產設備的歷史生產數據，獲取工藝相互影響指數和工藝環境影響指數； 綜合產品合格率對工藝參數敏感度、產品合格率對生產設備環境敏感度、工藝相互影響指數以及工藝環境影響指數，生成設備的初步產品合格率關系式； 將各生產設備所處的靜電場強度和磁場的磁感應強度作為生產設備所處生產環境，將各生產設備的實時對準精度、加工時間和封裝壓力作為工藝參數值，代入生產設備產品合格率關系式，獲取第二產品預測合格率； 將第一產品預測合格率和第二產品預測合格率作為輸入變量，建立設備的產品合格率預測模型； 其中，生產設備產品合格率關系式具體為：式中，表示第二產品預測合格率，表示第個工藝的產品合格率對工藝參數敏感度，表示第個工藝參數值，表示第個工藝和第個工藝之間的工藝相互影響指數，表示第個工藝參數值，表示第個工藝的產品合格率對工藝參數敏感度，表示第個工藝和生產環境之間的工藝環境影響指數，表示生產設備所處生產環境的具體數值，表示生產設備生成產品所需的工藝總數，表示對生產設備生成產品造成影響的環境總數。

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