深圳市尼柯光學精密技術有限公司陳文杰獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉深圳市尼柯光學精密技術有限公司申請的專利基于光柵尺的測量裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN111351440B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202010372498.X,技術領域涉及:G01B11/02;該發明授權基于光柵尺的測量裝置是由陳文杰設計研發完成,并于2020-05-06向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于光柵尺的測量裝置在說明書摘要公布了:本發明涉及測量儀器技術領域,特別涉及一種基于光柵尺的測量裝置,包括底座、光柵尺以及測量頭,所述光柵尺包括尺殼和讀數頭,光柵尺的尺殼固定安裝在底座上,測量頭固定在光柵尺的讀數頭上用于接觸待測物體的表面。光柵尺具有量程大、精度高的特點,我們通過將光柵尺的尺殼固定在底座上,待測產品放置在底座上,再通過光柵尺的讀數頭上固定的測量頭就可以方便的對待測產品進行測量,該裝置可以同時實現外徑和內徑的測量,也可以進行高度的測量,使用起來非常方便。
本發明授權基于光柵尺的測量裝置在權利要求書中公布了:1.一種基于光柵尺的測量裝置,其特征在于:包括底座(10)、光柵尺(20)以及測量頭(30),所述光柵尺(20)包括尺殼(21)和讀數頭(22),光柵尺(20)的尺殼(21)固定安裝在底座(10)上,測量頭(30)固定在光柵尺(20)的讀數頭(22)上用于接觸待測物體的表面; 所述的光柵尺(20)的尺殼(21)沿水平方向固定在底座(10)上,光柵尺(20)和底座(10)之間設置有微調單元(50),微調單元(50)包括構成滑動配合的第二滑軌(52)和第二滑塊(53),第二滑軌(52)平行布置在光柵尺(20)的尺殼(21)旁側,第二滑塊(53)上固定設置有相對布置的第二微分頭(542)和第三微分頭(543),第二微分頭(542)和第三微分頭(543)之間夾持有用于固定連接光柵尺(20)讀數頭(22)的第三連接塊(56); 所述的微調單元(50)包括條形塊(51),條形塊(51)固定安裝在底座(10)的支架(11)上,光柵尺(20)的尺殼(21)固定在條形塊(51)上,第二滑軌(52)固定設置在條形塊(51)上;第二滑塊(53)上固定安裝第二連接塊(54),第二連接塊(54)通過第二定位銷(55)鎖緊在條形塊(51)上,第二連接塊(54)上設置有兩塊豎直布置的安裝板(541),兩塊安裝板(541)彼此平行,兩塊安裝板(541)上分別固定第二微分頭(542)、第三微分頭(543); 所述的底座(10)包括支架(11)、前后調節單元(12)以及底座本體(13),支架(11)底部通過前后調節單元(12)固定在底座本體(13)上,支架(11)呈豎直狀布置,前后調節單元(12)用于調節支架(11)沿底座本體(13)的前后方向平移;支架(11)的一側面固定設置有沿豎直方向布置的滑軌(111),滑軌(111)上設置有能夠沿其長度方向移動的滑塊(112),條形塊(51)固定安裝在滑塊(112)上;支架(11)沿底座本體(13)的前后平移方向、滑塊(112)沿滑軌(111)的平移方向、讀數頭(22)的平移方向兩兩垂直; 包括連接單元(40),連接單元(40)由第一滑軌(41)、第一滑塊(42)以及第一連接塊(43)構成,第一滑軌(41)固定在光柵尺(20)的尺殼(21)上且第一滑軌(41)的長度方向平行于光柵尺(20)讀數頭(22)的位移方向,第一滑塊(42)沿第一滑軌(41)的長度方向滑移,第一連接塊(43)固定安裝在第一滑塊(42)以及光柵尺(20)的讀數頭(22)上;第三連接塊(56)固定安裝在第一連接塊(43)上。
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