浙江大學;浙江大學衢州研究院劉平偉獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉浙江大學;浙江大學衢州研究院申請的專利預測二硫化鉬納米片在極性溶劑中最高分散濃度的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119845801B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510172462.X,技術領域涉及:G01N13/00;該發明授權預測二硫化鉬納米片在極性溶劑中最高分散濃度的方法是由劉平偉;張妤欣;王德良;王文俊;李伯耿設計研發完成,并于2025-02-17向國家知識產權局提交的專利申請。
本預測二硫化鉬納米片在極性溶劑中最高分散濃度的方法在說明書摘要公布了:本申請提供了一種預測二硫化鉬納米片在極性溶劑中最高分散濃度的方法,該方法通過將二硫化鉬納米片分散于不同表面張力的極性溶劑中,并利用OWRK理論計算二硫化鉬納米片的表面張力,通過比較極性溶劑與二硫化鉬納米片表面張力之間的差異,建立最高分散濃度與表面張力差值的線性關系模型,該方法能夠準確預測在極性溶劑條件下二硫化鉬納米片的最高分散濃度,并通過復配溶劑調節溶劑表面張力進而優化納米片的分散性,從而提高材料的光電、催化等性能,具有較高的工業應用價值,能夠為納米材料的可控分散和大規模生產提供理論依據,顯著提升材料研發和生產效率。
本發明授權預測二硫化鉬納米片在極性溶劑中最高分散濃度的方法在權利要求書中公布了:1.一種預測二硫化鉬納米片在極性溶劑中最高分散濃度的方法,其特征在于,包括以下步驟: (1)獲取二硫化鉬納米片在至少兩種具有不同表面張力的極性溶劑中的最高分散濃度; (2)計算二硫化鉬納米片的表面張力; (3)計算極性溶劑的表面張力和二硫化鉬納米片的表面張力的張力差,以張力差的絕對值為橫坐標,以二硫化鉬納米片在對應極性溶劑中的最高分散濃度為縱坐標繪制擬合圖,基于擬合圖構建線性關系模型; (4)基于線性關系模型預測二硫化鉬納米片在目標極性溶劑中最高分散濃度。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人浙江大學;浙江大學衢州研究院,其通訊地址為:310058 浙江省杭州市西湖區余杭塘路866號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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