浜松光子學株式會社山本諭獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉浜松光子學株式會社申請的專利試樣觀察裝置及試樣觀察方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN109844606B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：201780062595.5，技術領域涉及：G02B21/36；該發明授權試樣觀察裝置及試樣觀察方法是由山本諭;松原正典;杉山范和設計研發完成，并于2017-08-15向國家知識產權局提交的專利申請。
本試樣觀察裝置及試樣觀察方法在說明書摘要公布了：試樣觀察裝置1具備：照射光學系統3，其對試樣S照射面狀光L2；掃描部4，其相對于面狀光L2的照射面R掃描試樣S；成像光學系統5，其具有相對于照射面R傾斜的觀察軸P2，將通過面狀光L2的照射而在試樣S產生的觀察光L3成像；圖像取得部6，其多次取得與由成像光學系統5成像的觀察光L3的光像的一部分對應的部分圖像數據；圖像生成部8，其基于由圖像取得部6生成的多個部分圖像數據而生成試樣S的觀察圖像數據。
本發明授權試樣觀察裝置及試樣觀察方法在權利要求書中公布了：1.一種SPIM選擇性平面照明顯微鏡，其中， 具備： 照射光學系統，其對試樣照射面狀光； 掃描部，相對于所述面狀光的照射面掃描所述試樣； 成像光學系統，其具有相對于所述照射面傾斜的觀察軸，將通過所述面狀光的照射而在所述試樣產生的觀察光成像； 圖像取得部，其多次取得與由所述成像光學系統成像的所述觀察光的光像的一部分對應的部分圖像數據；以及 圖像生成部，其基于由所述圖像取得部生成的多個部分圖像數據而生成所述試樣的觀察圖像數據， 在所述試樣，所述觀察軸相對于所述面狀光傾斜， 所述掃描部沿著相對于所述照射光學系統的所述面狀光的光軸正交的方向掃描所述試樣。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人浜松光子學株式會社，其通訊地址為：日本靜岡縣；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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