重慶郵電大學張恒獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監控用IP管家,真方便!
龍圖騰網獲悉重慶郵電大學申請的專利一種基于TensorRT加速推理的芯片缺陷檢測方法及系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115423796B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202211155766.8,技術領域涉及:G06T7/00;該發明授權一種基于TensorRT加速推理的芯片缺陷檢測方法及系統是由張恒;趙洪坪;杭芹;程成;何云玲;郭家新設計研發完成,并于2022-09-22向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于TensorRT加速推理的芯片缺陷檢測方法及系統在說明書摘要公布了:本發明屬于芯片缺陷檢測技術領域,具體涉及一種基于TensorRT加速推理的芯片缺陷檢測方法及系統;該方法包括:獲取芯片圖像數據集并對其進行預處理;使用芯片圖像數據集對改進YOLOv5模型進行訓練,得到多個目標檢測模型;將所有目標檢測模型轉換成TensorRT模型并將TensorRT模型拼接;采用拼接后的TensorRT模型對待檢測芯片圖像進行處理,得到推理結果;對推理結果進行降維和去冗余處理,得到待檢測芯片的缺陷檢測結果;本發明根本上解決現有設備質檢速度與精度上的不足,檢測效率更高、速度更快,節約了人力成本,實用性高。
本發明授權一種基于TensorRT加速推理的芯片缺陷檢測方法及系統在權利要求書中公布了:1.一種基于TensorRT加速推理的芯片缺陷檢測方法,其特征在于,包括: S1:獲取芯片圖像數據集并對其進行預處理,得到處理好的芯片圖像數據集; S2:使用芯片圖像數據集對改進YOLOv5模型進行訓練,得到多個目標檢測模型;對改進YOLOv5模型進行訓練的過程包括:改進YOLOv5模型包括backbone網絡、neck網絡和head網絡; backbone網絡中采用形變卷積提取特征,采用backbone網絡對芯片圖像進行處理,得到不同尺寸的特征圖; neck網絡融合不同尺寸的特征圖,得到融合特征圖; head網絡對融合特征圖進行處理,得到預測結果; 采用總損失函數對改進YOLOv5模型的參數進行調整,得到訓練好的改進YOLOv5模型; S3:將所有目標檢測模型轉換成TensorRT模型并將TensorRT模型拼接; S4:獲取待檢測芯片圖像,采用拼接后的TensorRT模型對待檢測芯片圖像進行處理,得到推理結果; S5:對推理結果進行降維處理;采用改進NMS算法對降維處理后的推理結果進行去冗余處理,得到待檢測芯片的缺陷檢測結果;采用改進NMS算法對降維處理后的推理結果進行去冗余處理的過程包括: 設置交疊率閾值,計算最大置信度的預測框與其他預測框的交疊率,去除其他框中交疊率大于交疊率閾值的預測框; 設置小目標、中目標和大目標的尺寸范圍;將芯片圖像數據集中的缺陷根據其最長邊長劃分為小目標、中目標和大目標;分別取落在三種目標下的所有缺陷的最小邊尺寸作為小目標閾值尺寸、中目標閾值尺寸和大目標閾值尺寸; 選取余下預測框中置信度最高的預測框,將預測框的最小邊與最接近最小邊的閾值尺寸作比較,若最小邊小于該閾值尺寸,則將預測框的最小邊擴展到該閾值尺寸; 計算擴展尺寸后的預測框與余下預測框的交疊率,若交疊率大于交疊率閾值,則去除余下預測框中交疊率大于交疊率閾值的預測框。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人重慶郵電大學,其通訊地址為:400065 重慶市南岸區南山街道崇文路2號;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息,力求客觀、公正,但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。