中國地質大學(武漢)高輝獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國地質大學(武漢)申請的專利一種模擬月壤的抗剪強度指標原位測試裝置及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119757071B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202411898470.4,技術領域涉及:G01N3/24;該發明授權一種模擬月壤的抗剪強度指標原位測試裝置及方法是由高輝;張宇欣;王慶濤;方小紅;邢書婷設計研發完成,并于2024-12-23向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種模擬月壤的抗剪強度指標原位測試裝置及方法在說明書摘要公布了:本發明提供一種模擬月壤的抗剪強度指標原位測試裝置及方法,涉及月壤檢測設備,該裝置包括:加載臺架;橫梁;靜力觸探探桿;密實筒組,包括沿著豎直方向依次可拆卸連接的多個分層密實筒,各分層密實筒用于盛裝不同密實度模擬月壤;以及驅動組件,驅動橫梁豎直運動并帶動靜力觸探探桿運動,使靜力觸探探桿插入其中一個分層密實筒內。本發明的有益效果:通過多個分層密實筒盛裝不同密實度模擬月壤,來模擬真實的原位未擾動的月壤,對不同密實度的模擬月壤進行靜力觸探試驗,建立模擬月壤的抗剪強度指標和阻力之間的物理模型,來測量模擬月壤的抗剪強度指標,在月球勘探過程中減少試驗流程,提升試驗效率和降低試驗成本。
本發明授權一種模擬月壤的抗剪強度指標原位測試裝置及方法在權利要求書中公布了:1.一種模擬月壤的抗剪強度指標原位測試方法,其特征在于:使用一種模擬月壤的抗剪強度指標原位測試裝置進行測試,所述測試裝置包括: 加載臺架; 橫梁,其可豎直滑動的安裝于所述加載臺架上; 靜力觸探探桿,其安裝于所述橫梁上; 密實筒組,其位于所述靜力觸探探桿下方,所述密實筒組包括兩個分層密實筒,兩個所述分層密實筒沿著豎直方向依次可拆卸連接; 以及驅動組件,其包括電機、以及與所述電機連接的傳動機構,所述傳動機構連接所述橫梁,以驅動所述橫梁豎直運動并帶動所述靜力觸探探桿運動,使所述靜力觸探探桿插入其中一個所述分層密實筒內; 所述測試方法包括以下步驟: S1、制作不同密實度的模擬月壤樣本; S2、通過直剪試驗測試不同密實度的模擬月壤的抗剪強度指標; S3、通過回歸方法建立模擬月壤密實度和抗剪強度指標之間的物理模型; S4、將每一種密實度的模擬月壤樣本放入一組所述密實筒組中; S5、通過所述驅動組件驅動所述橫梁向下運動,將所述靜力觸探探桿貫入模擬月壤中,測量所述靜力觸探探桿的阻力; S6、通過回歸方法建立模擬月壤密實度和所述靜力觸探探桿的阻力之間的物理模型; S7、通過步驟S3和步驟S6步驟中得到的兩個物理模型,建立模擬月壤的抗剪強度指標和所述靜力觸探探桿的阻力之間的物理模型,來測量模擬月壤的抗剪強度指標; 測試時先對上層分層密實筒和下層分層密實筒內裝填模擬月壤,振動到密實度Dr1,然后分層測量兩層分層密實筒的密實度,密實度測量完成之后把模擬月壤從兩個分層密實筒里的模擬月壤樣本均倒出來;然后重新對兩個分層密實筒裝填同樣質量的模擬月壤,振動到密實度為Dr1,再進行靜力觸探實驗,靜力觸探實驗時上層分層密實筒和下層分層密實筒內模擬月壤的密實度由前次分層測量獲得; 其中分層密實度的測量方法為: 將上層分層密實筒和下層分層密實筒緊固連接; 將不同密實度下對應的相應質量的模擬月壤倒入兩層分層密實筒中,通過振動密實的方法,使模擬月壤上表面恰好與上層分層密實筒上邊緣齊平; 將兩個分層密實筒連接處的螺絲拆除,用鐵片沿上層分層密實筒的下邊緣,將上層分層密實筒及筒內的模擬月壤轉移至電子秤上,稱量鐵片、上層分層密實筒和筒內模擬月壤的質量為m1;倒出筒內模擬月壤,稱量鐵片和上層分層密實筒的質量為m2,密實度的計算公式如下: , 式中:ρdmax為模擬月壤的最大干密度,ρdmin為模擬月壤的最小干密度,V為上層分層密實筒的體積。
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