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龍圖騰網(wǎng)獲悉瑤芯微電子科技(上海)有限公司申請的專利一種測試電路獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN116008621B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-19發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202310083328.3，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R1/36；該發(fā)明授權(quán)一種測試電路是由傅榮顥設(shè)計研發(fā)完成，并于2023-02-08向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種測試電路在說明書摘要公布了：本發(fā)明提供一種測試電路，包括：待測單元、第一電容、第二電容、電子保險絲及開合控制單元；待測單元的第一端連接第一電容的上極板，第二端連接第一電容的下極板和第二電容的下極板；電子保險絲連接于第一電容的上極板和第二電容的上極板之間，并受控于開合控制信號；開合控制單元用于對電子保險絲進(jìn)行電信號采樣得到采樣信號，并根據(jù)采樣信號和基準(zhǔn)信號的比較結(jié)果產(chǎn)生開合控制信號，以在待測單元正常工作時控制電子保險絲閉合，在待測單元異常工作時控制電子保險絲打開；其中，第一電容的容值小于第二電容的容值。通過本發(fā)明提供的測試電路，解決了現(xiàn)有高壓測試中因器件失效時常發(fā)生炸管的問題。

本發(fā)明授權(quán)一種測試電路在權(quán)利要求書中公布了：1.一種測試電路，其特征在于，所述測試電路包括：待測單元、第一電容、第二電容、電子保險絲及開合控制單元； 所述待測單元的第一端連接所述第一電容的上極板，第二端連接所述第一電容的下極板和所述第二電容的下極板；所述電子保險絲連接于所述第一電容的上極板和所述第二電容的上極板之間，并受控于開合控制信號； 所述開合控制單元用于對所述電子保險絲進(jìn)行電信號采樣得到采樣信號，并根據(jù)所述采樣信號和基準(zhǔn)信號的比較結(jié)果產(chǎn)生所述開合控制信號，以在所述待測單元正常工作時控制所述電子保險絲閉合，在所述待測單元異常工作時控制所述電子保險絲打開，切斷所述第二電容的供電鏈路，僅所述第一電容會被所述待測單元放電； 其中，所述第一電容的容值小于所述第二電容的容值。

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