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龍圖騰網(wǎng)獲悉深圳中科飛測科技股份有限公司申請的專利缺陷檢測方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質(zhì)獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予，授權公告號為：CN114332012B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202111635507.0，技術領域涉及：G06T7/00；該發(fā)明授權缺陷檢測方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質(zhì)是由陳魯;肖遙;佟異;張嵩設計研發(fā)完成，并于2021-12-29向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。

本缺陷檢測方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質(zhì)在說明書摘要公布了：本申請公開了缺陷檢測方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質(zhì)，缺陷檢測設備獲取待測件的檢測圖像；確定檢測圖像的待測區(qū)域；對待測區(qū)域進行二值化處理，獲取二值圖像；確定二值圖像中邊緣區(qū)域，邊緣區(qū)域包括多個待測區(qū)域的白色像素點；沿第一方向或沿第二方向?qū)吘墔^(qū)域的待測像素點進行檢測；確定邊緣區(qū)域上每一列或每一行的特征點，當特征點的數(shù)量大于或等于預設數(shù)量時，確定特征點為待測件的缺陷。通過確定晶圓上待測區(qū)域的邊緣區(qū)域，并確定邊緣區(qū)域上的特征點，再根據(jù)特征點確定待測件的缺陷，能夠準確的通過特征點的位置確定待測件上的缺陷類型，提高對待測件的檢測準確率，避免由于檢測準確率低而進行復檢，提高待測件的檢測效率。

本發(fā)明授權缺陷檢測方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質(zhì)在權利要求書中公布了：1.一種缺陷檢測方法，其特征在于，所述缺陷檢測方法包括： 獲取待測件的檢測圖像； 確定所述檢測圖像的待測區(qū)域； 對所述待測區(qū)域進行二值化處理，獲取二值圖像； 確定所述二值圖像中所述待測區(qū)域的邊緣區(qū)域； 以所述邊緣區(qū)域的像素點為中心，以預設檢測長度為半徑，沿第一方向或沿第二方向?qū)λ鲞吘墔^(qū)域的待測像素點進行檢測； 確定所述邊緣區(qū)域上每一列或每一行的跳變點；其中，當所述二值圖像中任一像素點為白色像素點，且該像素點的上下左右方向上存在黑色像素點時，確定該像素點為所述跳變點； 當所述跳變點與所述邊緣區(qū)域的距離大于或等于預設長度時，確定所述跳變點為特征點，當所述特征點的數(shù)量大于或等于預設數(shù)量時，確定所述特征點為所述待測件的缺陷。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢嗳?a target="_blank" rel="noopener noreferrer nofollow" href="https://iptop.www.hzsmkbearing.com.cn/list?keyword=%E6%B7%B1%E5%9C%B3%E4%B8%AD%E7%A7%91%E9%A3%9E%E6%B5%8B%E7%A7%91%E6%8A%80%E8%82%A1%E4%BB%BD%E6%9C%89%E9%99%90%E5%85%AC%E5%8F%B8&temp=1">深圳中科飛測科技股份有限公司，其通訊地址為：518000 廣東省深圳市龍華區(qū)大浪街道同勝社區(qū)上橫朗第四工業(yè)區(qū)2號101、201、301；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。