森瑟實驗室有限責任公司趙瑩獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉森瑟實驗室有限責任公司申請的專利使用多能量分解的用于對象的X射線成像方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN111867473B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：201980018662.2，技術領域涉及：A61B6/00；該發明授權使用多能量分解的用于對象的X射線成像方法是由趙瑩;趙永盛設計研發完成，并于2019-01-20向國家知識產權局提交的專利申請。
本使用多能量分解的用于對象的X射線成像方法在說明書摘要公布了：本申請公開的方法使用以散射去除方法實現的2D射線照相硬件進行光譜成像或多能量成像，將具有三種或更多種成分材料的對象的X射線圖像定量分離為成分圖像。多能量系統可通過實現DRC多能量分解和K邊緣減法成像方法來擴展。
本發明授權使用多能量分解的用于對象的X射線成像方法在權利要求書中公布了：1.對具有n≥3種不同材料成分t的對象成像的方法，所述方法包括： a提供X射線源和具有至少一個2D檢測器的X射線測量設備，其中所述對象位于所述X射線源與所述X射線測量設備之間； b用來自所述X射線源具有n個不同能級的X射線照射所述對象，所述X射線穿過所述對象以被所述X射線測量設備接收； c在n≥2能級處獲取測量值，其中，對n個能級中的每個進行至少一次測量； d通過在無散射擾動的情況下導出的測量值，針對每種材料成分和所述材料成分與兩種或更多種成分的每種組合在每個能級處進行校準并建立數據庫； e在每個譜級處從測量值中去除散射，以對于n個能級中的每個生成圖像D1…n； f生成n方程組D1…n＝∫[Φ0nE×exp-μ1E×t1+μ2E×t2+…μnE×tn]×SEdE，其中，Φ0nE是所述X射線源在第n能級處的能譜，μnE是第n材料成分的質量衰減系數，tn是所述第n材料成分的投影質量密度，以及S是檢測器的響應函數；以及 g求解所述方程組以針對n種材料成分t中的每個生成至少一個圖像。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人森瑟實驗室有限責任公司，其通訊地址為：美國加利福尼亞州；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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