買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉深圳市天和時代電子設備有限公司申請的專利一種在線式X射線無損探傷檢測方法及其系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115047015B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210642087.7，技術領域涉及：G01N23/04；該發明授權一種在線式X射線無損探傷檢測方法及其系統是由宋華倫;趙龍設計研發完成，并于2022-06-07向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種在線式X射線無損探傷檢測方法及其系統在說明書摘要公布了：本發明公開了屬于探傷檢測技術領域的一種在線式X射線無損探傷檢測方法及其系統，該方法包括在待檢測件觸發到漫反射光障向下發射的紅外光束時，得到包含結構特征的待檢測圖像輸入預先訓練的圖像模型進行匹配，對匹配得到的所述待檢測圖像對應的圖像匹配值大于圖像匹配閾值，則匹配通過并去除結構特征的干擾，生成待識別區域計算局部動態閾值對比和區域灰度值對比，以判斷所述待檢測件是否合格。本發明通過對待檢測圖像進行模型匹配、去干擾和計算識別區域的明亮度和灰度，實現對待檢測件的瑕疵、拉傷、斷裂等位置的分段異步的高清在線檢測，以減少人力投入和縮短檢測的總體時間，提高生產質量和生產效率。

本發明授權一種在線式X射線無損探傷檢測方法及其系統在權利要求書中公布了：1.一種在線式X射線無損探傷檢測方法，其特征在于，該檢測方法包括如下步驟： 采集步驟：在待檢測件觸發到漫反射光障向下發射的紅外光束時，通過X射線光源采集所述待檢測件的結構特征輸入圖像檢測系統，得到所述待檢測件對應的包含結構特征的待檢測圖像，所述結構特征包括外形輪廓、內孔輪廓、尺寸、沉臺、折邊、高度和表面紋理； 匹配步驟：將得到的包含結構特征的所述待檢測圖像輸入預先訓練的圖像模型進行匹配，若匹配得到的所述待檢測圖像對應的圖像匹配值大于圖像匹配閾值，則匹配通過，所述匹配步驟包括： 根據所述圖像模型可在設定的角度范圍內對檢測圖像進行匹配檢測； 根據所述圖像模型匹配檢測后的位置、角度、失真和變形的信息，對圖像模型進行變換處理，使得圖像模型匹配到待測圖像相應的位置上； 根據所述圖像模型對所述待檢測圖像的圖像特征進行去除、填補、偏移、縮放或篩選的操作校正； 根據所述圖像模型對所述待檢測圖像進行直角、弧形和內孔的校正；以及 根據所述圖像模型對所述待檢測圖像進行分區域校正； 處理步驟：將匹配通過的所述待檢測圖像中的結構特征進行干擾去除，生成所述待檢測圖像包含的待識別區域； 計算步驟：通過圖像處理計算所述待識別區域的局部動態閾值對比和區域灰度值對比，當所述局部動態閾值對比大于第一預設比值，和或所述區域灰度值對比大于第二預設比值，說明所述待識別區域為瑕疵、拉傷或斷裂區域，則判斷所述待檢測件為不合格； 其中，還包括，當所述待檢測件的采集面積超過X射線光源向下照射的面積時，利用分段采集圖像的方式，根據檢測件長度自動計算移動距離，并在檢測件移動到合適位置后，然后通過所述X射線光源采集所述待檢測件包含的各個區域并分別輸入圖像檢測系統進行檢測； 所述圖像檢測系統進行檢測包括： 在所述X射線光源采集完所述待檢測件包含的第一區域reg1之后； 在所述第一區域reg1對應的第一待檢測圖像進行圖像模型匹配、待檢測圖像中的結構特征進行干擾去除、計算識別區域的區域明亮值和區域灰度值并判斷出所述待檢測件的當前處理區域是否合格的同時進行以下判斷操作： 操作1：如果檢測件過長，在完成整個檢測件采集之前，根據檢測件長度自動計算移動距離，并在檢測件移動到合適位置后，通過所述X射線光源采集所述待檢測件包含的第二區域reg2； 操作2：如果檢測件的采集面積在X射線光源向下照射的面積內，則啟動傳送帶等待下一個檢測件，直到下一個檢測件采集完成，得到第二檢測件的區域reg2; 在計算第二待識別區域reg2的模型匹配、干擾去除并判斷該位置是否合格的同時，按操作1與操作2的判斷來啟動下一個區域或者下一個檢測件的采集流程。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人深圳市天和時代電子設備有限公司，其通訊地址為：518000 廣東省深圳市福田區梅林街道北環路梅林多麗工業區廠房2棟第3層311房；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。