華為技術有限公司俞芳芳獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！
龍圖騰網獲悉華為技術有限公司申請的專利預測光模塊故障的方法、裝置和設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN111507363B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：201910093487.5，技術領域涉及：G06F18/2415；該發明授權預測光模塊故障的方法、裝置和設備是由俞芳芳;董峰;宋偉;楊慶平設計研發完成，并于2019-01-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本預測光模塊故障的方法、裝置和設備在說明書摘要公布了：本申請提供了一種預測光模塊故障的方法和裝置。本申請根據光模塊的工作參數對應的分類樣本集確定工作參數的分類閾值，并根據分類閾值與待檢測序列中的多個測量值的比較結果，預測該待檢測序列對應的光模塊在將來是否會發生故障，以便于維護人員重點關注可能發生故障的光模塊，降低光模塊故障對業務造成的影響。
本發明授權預測光模塊故障的方法、裝置和設備在權利要求書中公布了：1.一種預測光模塊故障的方法，其特征在于，包括： 獲取光模塊在預設時間段內的待檢測序列，所述待檢測序列包括所述光模塊的工作參數的多個測量值； 獲取所述工作參數對應的分類閾值；所述分類閾值是根據所述工作參數對應的分類樣本集生成的，所述工作參數對應的所述分類閾值是根據所述分類樣本集對應的分類閾值確定的，所述分類樣本集對應的分類閾值為多個參考分類閾值中的一個，所述分類樣本集中包括多個分類樣本，每個分類樣本包括所述工作參數的一個測量值及第一分類標識，所述第一分類標識用于指示所述每個分類樣本中的測量值來自正常光模塊或故障光模塊，所述多個參考分類閾值是預設的，或，所述多個參考分類閾值是根據所述分類樣本集中的每個分類樣本的測量值確定的； 根據所述工作參數對應的分類閾值與所述待檢測序列中的多個測量值的比較結果，確定所述光模塊的第一預測結果，所述第一預測結果指示所述光模塊是否進入故障模式。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華為技術有限公司，其通訊地址為：518129 廣東省深圳市龍崗區坂田華為總部辦公樓；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
以上內容由AI智能生成
免責聲明
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
開放平臺
擔保交易
惠及多方
會員特惠
專屬平臺
適合多方
數據共享
功能齊全
皖公網安備 34010402703815號