哈爾濱工業大學劉永猛獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉哈爾濱工業大學申請的專利基于測量軸與同軸度評定軸基準統一的同軸度測量方法及系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115422501B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202211107414.5,技術領域涉及:G06F17/16;該發明授權基于測量軸與同軸度評定軸基準統一的同軸度測量方法及系統是由劉永猛;栗瑞瑞;孫傳智;譚久彬設計研發完成,并于2022-09-13向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于測量軸與同軸度評定軸基準統一的同軸度測量方法及系統在說明書摘要公布了:本發明公開了一種基于測量軸與同軸度評定軸基準統一的同軸度測量方法及系統,屬于同軸度測量技術領域,其中,該方法包括:建立測量坐標系和評定坐標系,在測量坐標系下測量標準器的兩端圓心位置;根據兩端圓心位置求解評定坐標系與測量坐標系之間的旋轉矩陣;在測量坐標系下測量第j個測量截面圓心位置,根據旋轉矩陣求解評定坐標系下標準器第j個測量截面偏心,其中,j為正整數;迭代執行前一步測量多個測量截面偏心進行標準器同軸度評定。該方法通過坐標變換,實現了同軸度標準器測量和評定基準的統一,對提高同軸度測量精度具有重要意義。
本發明授權基于測量軸與同軸度評定軸基準統一的同軸度測量方法及系統在權利要求書中公布了:1.一種基于測量軸與同軸度評定軸基準統一的同軸度測量方法,其特征在于,包括以下步驟: 步驟S1,建立測量坐標系和評定坐標系,在所述測量坐標系下測量標準器的兩端圓心位置; 步驟S2,根據所述兩端圓心位置求解所述評定坐標系與所述測量坐標系之間的旋轉矩陣; 步驟S3,在所述測量坐標系下測量第j個測量截面圓心位置,根據所述旋轉矩陣求解所述評定坐標系下標準器第j個測量截面偏心,其中,j為正整數;以及 步驟S4,迭代執行步驟S3測量多個測量截面偏心進行標準器同軸度評定; 所述測量坐標系以標準器下端面圓心O 1為圓心,以轉臺0°為x軸,以轉臺回轉軸為z軸,所述評定坐標系以標準器下端面圓心O 1為圓心,以O 1和O 2連線為z軸,其中,O 2為所述測量坐標系的上端圓心; 所述步驟S2具體包括: 步驟S201,根據所述兩端圓心位置,確定圓心O 2在所述測量坐標系下的第一位置向量,以及圓心O 2在所述評定坐標系下的第二位置向量; 步驟S202,根據所述第一位置向量和所述第二位置向量評定軸方向向量; 步驟S203,根據所述軸方向向量確定單位向量,根據所述單位向量、所述第一位置向量和所述第二位置向量求解旋轉矩陣; 所述步驟S3具體包括: 步驟S301,根據所述旋轉矩陣設所述測量坐標系下標準器第j個測量截面幾何形心O jcx jc,y jc,z jc在所述評定坐標系下表示為O jex je,y je,z je; 步驟S302,根據所述O jex je,y je,z je求解所述評定坐標系下標準器第j個測量截面偏心。
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