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龍圖騰網獲悉江西萬年芯微電子有限公司申請的專利一種基于集成芯片的熱電測試輔助設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN118393320B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202410496690.8，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權一種基于集成芯片的熱電測試輔助設備是由艾育林;吳昊如;王雨靜;陸寅鵬;朱錦輝設計研發完成，并于2024-04-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于集成芯片的熱電測試輔助設備在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于集成芯片的熱電測試輔助設備，涉及熱電性能檢測技術領域，包括支撐結構，支撐結構包括芯片主體，芯片主體的右側設置有檢測機構，芯片主體的左側設置有除塵機構，芯片主體的前端設置有運送機構，檢測機構包括觀察記錄多項檢測數據的電學檢測儀，電學檢測儀位于芯片主體的前后兩側，檢測機構用于對芯片主體進行表面加熱以及熱電性能的檢測操作，該裝置可以對集成芯片進行熱電性能的檢測，更有助于操作員了解芯片在高溫下的性能表現，使得使用過程更加流暢，也可及時發現潛在問題，如過熱失效，短時間內發現可以極大程度減少產品故障的風險，測試結果可以為工程師提供重要參考數據，幫助優化芯片設計和散熱系統。

本發明授權一種基于集成芯片的熱電測試輔助設備在權利要求書中公布了：1.一種基于集成芯片的熱電測試輔助設備，包括支撐結構（100），其特征在于，所述支撐結構（100）包括芯片主體（101），所述芯片主體（101）的右側設置有檢測機構（200），所述芯片主體（101）的左側設置有除塵機構（400），所述芯片主體（101）的前端設置有運送機構（300）； 所述檢測機構（200）包括觀察記錄多項檢測數據的電學檢測儀（205），所述電學檢測儀（205）位于芯片主體（101）的前后兩側，所述檢測機構（200）用于對芯片主體（101）進行表面加熱以及熱電性能的檢測操作； 所述運送機構（300）包括被芯片主體（101）推動來操控后續芯片停止和通行的擺桿二（309），所述擺桿二（309）位于芯片主體（101）的右側，所述運送機構（300）用于對即將進行熱電性能檢測的芯片主體（101）進行連續性傳送操作； 所述除塵機構（400）包括對已經噴灑清潔物質后的芯片進行擦拭除塵的刷頭（405），所述刷頭（405）位于芯片主體（101）的上方，所述除塵機構（400）用于對芯片主體（101）表面可能影響熱電性能檢測結果的灰塵雜質進行清除； 所述芯片主體（101）的前后兩端固定連接有接口（102），所述接口（102）的底端固定連接有方盤（103），所述方盤（103）的底端設置有抵觸桿（104），所述方盤（103）的右側固定連接有抵觸桿（104），所述方盤（103）的底端設置有傳送帶（105），所述傳送帶（105）的寬度和抵觸桿（104）相適配，所述傳送帶（105）的底端轉動連接有支架（106）； 所述檢測機構（200）包括加熱爐（201），所述加熱爐（201）位于方盤（103）的右側，所述加熱爐（201）內部的前后兩面皆固定連接有彈簧一（202），兩個所述彈簧一（202）面向芯片主體（101）的一側固定連接有橫桿一（203），所述橫桿一（203）面向芯片主體（101）的一側固定連接有橫桿二（204）； 所述橫桿二（204）面向芯片主體（101）的一面固定連接有插頭（206），所述插頭（206）遠離芯片主體（101）的一側穿過橫桿二（204）和電學檢測儀（205）固定連接，所述插頭（206）的間距與接口（102）相適配。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人江西萬年芯微電子有限公司，其通訊地址為：334000 江西省上饒市高新技術產業區豐收工業園(建設路以北、建元路以南)；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。