華中科技大學李中偉獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉華中科技大學申請的專利一種基于條紋投影的鈑金件孔位三維輪廓測量方法及系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116295110B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202211718928.4,技術領域涉及:G01B11/25;該發明授權一種基于條紋投影的鈑金件孔位三維輪廓測量方法及系統是由李中偉;張攀;鐘凱;黃羿;楊青芃設計研發完成,并于2022-12-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于條紋投影的鈑金件孔位三維輪廓測量方法及系統在說明書摘要公布了:本發明公開了一種基于條紋投影的鈑金件孔位三維輪廓測量方法及系統,通過左相機的均勻光照圖獲取初始孔位區域圖像以提取孔位輪廓曲線,將提取的輪廓曲線向周圍區域進行兩次恒定運動,根據相位匹配重建放大后的三維輪廓點,然后再根據前兩個重建的放大輪廓對應點,逆向重建真實的三維輪廓。該方法只需要在一張圖像上提取輪廓,因此可以減少輪廓提取不一致的影響。并且,通過在鈑金的非邊緣區域進行高質量的相位匹配,能夠保證鈑金件孔位三維輪廓的準確性和完整性。
本發明授權一種基于條紋投影的鈑金件孔位三維輪廓測量方法及系統在權利要求書中公布了:1.一種基于條紋投影的鈑金件孔位三維輪廓測量方法,其特征在于,包括: S1,左右相機同步獲取待測鈑金件的均勻光照圖;向待測鈑金件投影一組多頻光柵條紋圖像,左右相機同步獲取在待測鈑金件表面形成的條紋投影圖,根據所述條紋投影圖計算絕對相位圖; S2,根據左相機的均勻光照圖獲取二值化孔位圖像,將其作為初始孔位區域圖像,確定其中各孔位區域及其最小外接矩形; S3,依次將各孔位區域的最小外接矩形擴大預設范圍后作為掩膜,以初始化水平集能量函數,并按照預設迭代次數對其進行迭代,得到所述各孔位區域的輪廓曲線; 其中,所述水平集能量函數為:ELG=EG+ωLEL,EL為局部灰度能量,EG為全局灰度能量, ωL為EL的加權指數,Ix,y為坐標為x,y的像素點的灰度值,HεΦ為水平集函數Φ的平滑Heaviside函數,um和vm為內、外區域的全局平均強度,Ω為整個圖像區域,ux,y為局部內部區域強度,vx,y為局部外部區域強度; S4,將所述輪廓曲線進行兩次常量運動得到兩個放大的輪廓曲線,在右相機的絕對相位圖中搜索所述兩個放大的輪廓曲線上各像素點的匹配點,組成匹配點對;其中,所述匹配點對的絕對相位值相同,且像素點在左相機的絕對相位圖上的行號與匹配點在右相機的絕對相位圖上的行號相同; S5,對所述匹配點對進行三維重建,得到兩條重構輪廓;根據所述兩條重構輪廓上相互對應的三維輪廓點云進行反向重構,得到各孔位區域的真實輪廓點云。
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