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龍圖騰網(wǎng)獲悉深圳宏恩電子技術(shù)有限公司申請(qǐng)的專利一種硅光半導(dǎo)體高溫老化測(cè)試設(shè)備獲國(guó)家實(shí)用新型專利權(quán)，本實(shí)用新型專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN223284335U 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-29發(fā)布的實(shí)用新型授權(quán)公告中獲悉：該實(shí)用新型的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202422002842.2，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該實(shí)用新型一種硅光半導(dǎo)體高溫老化測(cè)試設(shè)備是由韓冬年設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2024-08-19向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種硅光半導(dǎo)體高溫老化測(cè)試設(shè)備在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本實(shí)用新型公開(kāi)了一種硅光半導(dǎo)體高溫老化測(cè)試設(shè)備，涉及芯片老化測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，包括老化測(cè)試主機(jī)，溫控主機(jī)，監(jiān)控主機(jī)，還包括密封加熱腔，老化測(cè)試主機(jī)頂部設(shè)置有若干個(gè)信號(hào)傳輸接口，信號(hào)傳輸接口上方還設(shè)置有接口轉(zhuǎn)換板，接口轉(zhuǎn)換板上設(shè)置有芯片測(cè)試接口，芯片測(cè)試接口一端與信號(hào)傳輸接口連接，一端用于接入待測(cè)芯片，老化測(cè)試主機(jī)內(nèi)部至少設(shè)置有電源、控制板和與芯片拔插座連接的檢測(cè)板；密封加熱腔固定連接在老化測(cè)試主機(jī)頂部，密封加熱腔內(nèi)設(shè)置有加熱裝置和溫度傳感器，密封加熱腔頂部設(shè)置有門體，溫控主機(jī)與密封加熱腔連接，監(jiān)控主機(jī)與老化測(cè)試主機(jī)和溫控主機(jī)連接。本實(shí)用新型，解決了高溫環(huán)境下測(cè)試板工作性能低的問(wèn)題。

本實(shí)用新型一種硅光半導(dǎo)體高溫老化測(cè)試設(shè)備在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種硅光半導(dǎo)體高溫老化測(cè)試設(shè)備，包括老化測(cè)試主機(jī)（1），溫控主機(jī)（3），監(jiān)控主機(jī)（4），其特征在于：還包括密封加熱腔（2），所述老化測(cè)試主機(jī)（1）頂部設(shè)置有若干個(gè)信號(hào)傳輸接口（5），所述信號(hào)傳輸接口（5）上方分別設(shè)置有接口轉(zhuǎn)換板（6），所述接口轉(zhuǎn)換板（6）上設(shè)置有芯片測(cè)試接口（14），所述芯片測(cè)試接口（14）一端與信號(hào)傳輸接口（5）連接，一端用于接入待測(cè)芯片（10），所述老化測(cè)試主機(jī)（1）內(nèi)部至少設(shè)置有電源（11）、控制板（12）和與芯片拔插座連接的檢測(cè)板（13）；所述密封加熱腔（2）固定連接在老化測(cè)試主機(jī)（1）頂部，使得芯片測(cè)試接口（14）位于密封加熱腔（2）內(nèi)，所述密封加熱腔（2）內(nèi)設(shè)置有加熱裝置和溫度傳感器，所述密封加熱腔（2）頂部設(shè)置有門體（9），所述溫控主機(jī)（3）與密封加熱腔（2）連接，所述監(jiān)控主機(jī)（4）與老化測(cè)試主機(jī)（1）和溫控主機(jī)（3）連接。

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