牛津納米孔科技公司謝平獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉牛津納米孔科技公司申請的專利納米孔感測裝置、組件和操作方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN113574381B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202080020257.7,技術領域涉及:G01N33/487;該發明授權納米孔感測裝置、組件和操作方法是由謝平;J·米利斯;K·希利設計研發完成,并于2020-03-11向國家知識產權局提交的專利申請。
本納米孔感測裝置、組件和操作方法在說明書摘要公布了:一種納米孔感測裝置具有被布置成將分析物儲存器106與出口室108分開的結構100。所述結構100包含納米孔結構陣列104,每個納米孔結構104包括用于穿過所述結構實現所述分析物儲存器106與所述出口室108之間的流體連接的通路114。布置有控制端子156以施加控制信號來改變跨所述納米孔結構104的電位差。配置了電子電路152以檢測來自每個納米孔結構104處的電換能元件126的信號。
本發明授權納米孔感測裝置、組件和操作方法在權利要求書中公布了:1.一種用于進行納米孔感測的裝置,所述裝置包括: 被布置成將分析物儲存器與出口室分開的結構100,所述結構100包括納米孔結構102陣列,每個納米孔結構102包括用于穿過所述結構100實現所述分析物儲存器與所述出口室之間的流體連接的通路; 驅動電極,所述驅動電極分別連接在所述分析物儲存器和所述出口室中,以跨所述通路強加電位差; 電換能元件,每個元件連接到相應納米孔結構102的所述通路,以測量所述納米孔結構102中的所述電換能元件處的流體電位;以及 控制端子,每個控制端子連接到相應納米孔結構102,以施加控制信號來改變跨所述納米孔結構102的所述電位差, 其中所述結構100具有: 納米孔層,所述納米孔層結合有孔142的陣列,每個孔142具有跨所述孔142的膜并且具有形成在所述膜中的納米孔116,并且每個孔142具有孔出口;以及 基礎層,所述基礎層結合有通道,其中所述納米孔層和所述基礎層夾置在一起,使得所述孔142與相應的通道對齊以限定所述通路, 其中,每個孔142位于相應通路的第一端,其中,每個所述電換能元件配置為在相應孔142的與相應納米孔116相對的一側上, 其中,所述孔142通過所述孔出口流體連接到所述通道,所述孔出口配置為在相應孔142的與相應納米孔116相對的一側上, 其中所述結構100還包括控制電極,每個控制電極暴露于相應的納米孔結構102的通路,并且每個控制端子連接到相應納米孔結構102的所述控制電極。
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