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龍圖騰網(wǎng)獲悉湖南大學(xué);無(wú)錫市錫山區(qū)半導(dǎo)體先進(jìn)制造創(chuàng)新中心申請(qǐng)的專利小型可插拔收發(fā)光模塊底座缺陷的檢測(cè)方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN115409787B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202210983492.5，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06T7/00；該發(fā)明授權(quán)小型可插拔收發(fā)光模塊底座缺陷的檢測(cè)方法是由劉堅(jiān);楊德志;陳寧設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-08-16向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本小型可插拔收發(fā)光模塊底座缺陷的檢測(cè)方法在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本發(fā)明公開(kāi)了一種小型可插拔收發(fā)光模塊底座缺陷的檢測(cè)方法，包括：獲取光模塊底座的圖像；對(duì)光模塊底座的圖像進(jìn)行預(yù)處理；根據(jù)光模塊底座的缺陷分布位置，從預(yù)處理后的圖像提取出至少一個(gè)感興趣區(qū)域；將提取到的感興趣區(qū)域作為檢測(cè)塊進(jìn)行缺陷檢測(cè)，得到檢測(cè)塊的缺陷類型；采用與缺陷類型相應(yīng)的算法提取檢測(cè)塊的特征向量；將特征向量輸入訓(xùn)練好的分類模型中，判斷檢測(cè)塊中是否存在缺陷類型對(duì)應(yīng)的缺陷。本發(fā)明的技術(shù)方案提升了小型可插拔收發(fā)光模塊底座缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確率。

本發(fā)明授權(quán)小型可插拔收發(fā)光模塊底座缺陷的檢測(cè)方法在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種小型可插拔收發(fā)光模塊底座缺陷的檢測(cè)方法，所述方法包括： 獲取所述光模塊底座的圖像； 對(duì)所述光模塊底座的圖像進(jìn)行預(yù)處理； 根據(jù)所述光模塊底座的缺陷分布位置，從預(yù)處理后的圖像提取出至少一個(gè)感興趣區(qū)域； 將提取到的感興趣區(qū)域作為檢測(cè)塊進(jìn)行缺陷檢測(cè)，得到所述檢測(cè)塊的缺陷類型； 采用與所述缺陷類型相應(yīng)的算法提取所述檢測(cè)塊的特征向量； 將所述特征向量輸入訓(xùn)練好的分類模型中，判斷所述檢測(cè)塊中是否存在所述缺陷類型對(duì)應(yīng)的缺陷； 其中，所述將提取到的感興趣區(qū)域作為檢測(cè)塊進(jìn)行缺陷檢測(cè)，得到所述檢測(cè)塊的缺陷類型，包括： 如果所述檢測(cè)塊的長(zhǎng)寬比大于預(yù)定值，則： 將所述檢測(cè)塊細(xì)分為多個(gè)子檢測(cè)塊，并從中確定存在缺陷的子檢測(cè)塊； 對(duì)所述存在缺陷的子檢測(cè)塊進(jìn)行二值化處理； 對(duì)二值化處理后的子檢測(cè)塊進(jìn)行平滑處理； 填補(bǔ)平滑處理后的子檢測(cè)塊上的空洞，生成標(biāo)準(zhǔn)模板； 將平滑處理后的子檢測(cè)塊與所述標(biāo)準(zhǔn)模板進(jìn)行圖像差分； 在圖像差分的結(jié)果中，通過(guò)可連通區(qū)域的高度峰值判斷缺陷類型是否為缺料缺陷，通過(guò)白色連通區(qū)域的長(zhǎng)度、高度和面積判斷缺陷類型是否為顆粒缺陷； 如果所述檢測(cè)塊的長(zhǎng)寬比小于或等于預(yù)定值，則： 對(duì)所述檢測(cè)塊進(jìn)行二值化處理； 通過(guò)對(duì)二值化處理后的檢測(cè)塊中白色像素點(diǎn)面積與其最小外接矩陣面積的比值，判斷缺陷類型是否為多料缺陷； 通過(guò)對(duì)二值化處理后的檢測(cè)塊中白色像素面積與整個(gè)檢測(cè)塊面積的比值，判斷缺陷類型是否為卡石缺陷； 對(duì)所述檢測(cè)塊進(jìn)行局部二值模式處理； 通過(guò)局部二值模式處理后的圖像的灰度統(tǒng)計(jì)分布判斷缺陷類型是否為毛刺缺陷。

如需購(gòu)買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)＠麢?quán)人湖南大學(xué);無(wú)錫市錫山區(qū)半導(dǎo)體先進(jìn)制造創(chuàng)新中心，其通訊地址為：410082 湖南省長(zhǎng)沙市岳麓區(qū)麓山南路麓山門；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。