北京理工大學朱政羲獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京理工大學申請的專利一種離子推力器柵極腐蝕形貌演化預測方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116386741B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202310426655.4,技術領域涉及:G16C10/00;該發明授權一種離子推力器柵極腐蝕形貌演化預測方法是由朱政羲;苗龍;楊統勛設計研發完成,并于2023-04-20向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種離子推力器柵極腐蝕形貌演化預測方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種離子推力器柵極腐蝕形貌演化預測方法,包括:通過實驗測量獲得加速柵極下游的單孔束流大小;選取一對屏柵、加速柵孔作為數值仿真研究的對象;根據束流電流和屏柵極上游等離子體密度的關系,獲取初始的屏柵上游等離子體密度;根據上游等離子體密度計算獲得德拜長度,并選取仿真網格的尺寸;根據中性氣體碰撞模型,獲得仿真區域內每個網格節點上中性氣體密度;建立柵極腐蝕形貌演化模型,開始束流計算,仿真得到單孔束流大小,通過實驗值進行反饋調節,確定最終的上游離子密度;處理離子與柵極的碰撞過程,開始腐蝕計算,獲得柵極準確腐蝕速率;基于腐蝕速率減小網格質量,消去網格節點,實現柵極形貌的改變。
本發明授權一種離子推力器柵極腐蝕形貌演化預測方法在權利要求書中公布了:1.一種離子推力器柵極腐蝕形貌演化預測方法,其特征在于,包括以下步驟: S1:通過實驗測量,獲得加速柵極下游的單孔束流大小; S2:對選取的屏柵、加速柵孔所在的圓柱形區域進行數值仿真,獲得軸對稱計算域; S3:在所述軸對稱計算域中,根據束流電流和屏柵極上游等離子體密度的關系,獲得初始的屏柵上游等離子體密度; S4:根據屏柵上游等離子體密度,獲得德拜長度,基于德拜長度,獲得仿真網格的尺寸; S5:根據中性氣體碰撞模型,獲得仿真區域內每個網格節點上中性氣體密度; S6:建立柵極腐蝕形貌演化模型,基于所述柵極腐蝕形貌演化模型,開始束流計算,仿真得到單孔束流大小;基于仿真得到的單孔束流大小和所述S1中,通過實驗測量獲得的單孔束流大小,對初始的屏柵上游等離子體密度進行反饋調節,獲得最終的屏柵上游等離子體密度; S7:處理離子與柵極的碰撞過程,生成電荷交換離子;基于所述電荷交換離子,開始腐蝕計算,并采用柵極質心和重心對于離子碰撞角度進行修正,獲得柵極腐蝕速率; S8:基于所述柵極腐蝕速率減小網格質量,當網格質量滿足預設要求時,消去網格節點,實現柵極形貌的改變。
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