中國科學院長春光學精密機械與物理研究所李小冬獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利一種基于光學平尺檢測的非直線導軌拼接儀精度及空間位置標定方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119554958B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202411670944.X,技術領域涉及:G01B11/00;該發明授權一種基于光學平尺檢測的非直線導軌拼接儀精度及空間位置標定方法是由李小冬;謝曉光;徐偉;李淼;趙桐設計研發完成,并于2024-11-21向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于光學平尺檢測的非直線導軌拼接儀精度及空間位置標定方法在說明書摘要公布了:本發明涉及一種基于光學平尺檢測的非直線導軌拼接儀精度及空間位置標定方法,包括以下步驟:利用經緯儀自準直原理,使用直角棱鏡將非直線導軌基準面引出,并完成非直線拼接儀Y軸滑塊與非直線拼接儀Y軸基準面之間標定,確定非直線導軌最低基準點位置;使用光學平尺在非直線拼接儀本體上找正對準,讀取顯微鏡頭中觀測的標記點位置;通過計算分析得到非直線拼接儀顯微鏡頭工作點實際空間位置均方根值。本發明的標定方法基于光學平尺來檢測拼接儀精度并標定空間位置不僅適用于直線運動,更解決了非直線拼接儀精度檢測和空間位置標定問題,且標定檢測操作方便、周期短,可在每次焦平面拼接前進行標定,有效提高儀器精度標定效率。
本發明授權一種基于光學平尺檢測的非直線導軌拼接儀精度及空間位置標定方法在權利要求書中公布了:1.一種基于光學平尺檢測的非直線導軌拼接儀精度及空間位置標定方法,其特征在于,該標定方法適用的非直線導軌拼接儀包括:非直線拼接儀本體1; 非直線拼接儀本體1上設有非直線導軌2;在非直線導軌2的中部設有顯微鏡頭3和基準立方棱鏡4,在非直線導軌2的一端設有直角棱鏡5;在基準立方棱鏡4和直角棱鏡5的連線方向上設有經緯儀6; 非直線拼接儀本體1上設有兩個理石支撐結構9;每個理石支撐結構9上設有一個光學調整臺8;在兩個光學調整臺8上架有光學平尺7; 非直線拼接儀Y軸為非直線導軌2的長度方向,非直線拼接儀X軸為與非直線拼接儀Y軸垂直的水平方向,非直線拼接儀Z軸為豎直方向; 該標定方法包括以下步驟: 步驟1:利用經緯儀自準直原理,使用直角棱鏡5將非直線導軌2基準面引出,并完成非直線拼接儀Y軸滑塊與非直線拼接儀Y軸基準面之間標定,確定非直線導軌2最低基準點位置; 步驟2:使用光學平尺7在非直線拼接儀本體1上找正對準,讀取顯微鏡頭3中觀測的標記點位置; 步驟3:通過計算分析得到非直線拼接儀顯微鏡頭3工作點實際空間位置均方根值。
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