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龍圖騰網獲悉晉城市光機電產業(yè)協(xié)調服務中心(晉城市光機電產業(yè)研究院)申請的專利半導體激光器老化測試系統(tǒng)及方法獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120275759B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202510779643.9，技術領域涉及：G01R31/00；該發(fā)明授權半導體激光器老化測試系統(tǒng)及方法是由成磊;鮑亞楠;韋炳興;齊東東;郭麒;李利;李亞東設計研發(fā)完成，并于2025-06-12向國家知識產權局提交的專利申請。

本半導體激光器老化測試系統(tǒng)及方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明涉及半導體激光器技術領域，具體為半導體激光器老化測試系統(tǒng)及方法，包括以下步驟，通過光電探測器對半導體激光器的輸出光束進行實時采集，得到光強時間序列數(shù)據；利用溫度傳感器陣列對半導體激光器進行熱分布掃描，得到器件溫度梯度圖；根據光強時間序列數(shù)據和器件溫度梯度圖，對半導體激光器進行性能劣化趨勢預測，得到壽命評估數(shù)據；基于壽命評估數(shù)據，對半導體激光器進行加速老化測試參數(shù)優(yōu)化，得到定制化老化測試方案，解決了傳統(tǒng)老化測試方法已難以準確反映器件在實際工作條件下的性能演變過程的技術問題。

本發(fā)明授權半導體激光器老化測試系統(tǒng)及方法在權利要求書中公布了：1.半導體激光器老化測試系統(tǒng)，其特征在于，包括： 采集模塊，用于通過光電探測器對半導體激光器的輸出光束進行實時采集，得到光強時間序列數(shù)據； 掃描模塊，用于利用溫度傳感器陣列對半導體激光器進行熱分布掃描，得到器件溫度梯度圖； 預測模塊，用于根據光強時間序列數(shù)據和器件溫度梯度圖，對半導體激光器進行性能劣化趨勢預測，得到壽命評估數(shù)據，具體包括： 基于光強時間序列數(shù)據中的光強峰值和光強谷值，初步評估半導體激光器的光輸出穩(wěn)定性，得到光輸出穩(wěn)定性評估集，并對光輸出穩(wěn)定性評估集進行波動模式分析，得到光輸出波動模式特征集； 通過光輸出波動模式特征集，對器件溫度梯度圖中的熱點位置進行關聯(lián)分析，得到熱點位置關聯(lián)特征集，并基于熱點位置關聯(lián)特征集對半導體激光器進行熱-光耦合效應評估，得到熱-光耦合效應量化評估集； 利用熱-光耦合效應量化評估集，對半導體激光器進行功率傳輸損耗趨勢分析，得到功率傳輸損耗趨勢集，并基于功率傳輸損耗趨勢集對半導體激光器進行性能衰減關鍵因素定位，得到性能衰減關鍵因素定位集； 基于性能衰減關鍵因素定位集，預測半導體激光器的剩余有效壽命，得到壽命預測初步結果集，并對壽命預測初步結果集進行環(huán)境因素修正，得到壽命評估數(shù)據； 優(yōu)化模塊，用于基于壽命評估數(shù)據，對半導體激光器進行加速老化測試參數(shù)優(yōu)化，得到定制化老化測試方案，具體包括： 基于壽命評估數(shù)據中的功率衰減率，對半導體激光器的能量轉換效率進行層級劃分，得到能量轉換效率層級集，并對能量轉換效率層級集進行邊界值分析，得到能量轉換效率邊界值集； 通過能量轉換效率邊界值集，對半導體激光器的散熱需求進行評估，得到散熱需求評估集，并基于散熱需求評估集對半導體激光器的最優(yōu)老化溫度范圍進行初步確定，得到最優(yōu)老化溫度范圍初步確定集； 利用最優(yōu)老化溫度范圍初步確定集，對半導體激光器的電流承載能力進行分析，得到電流承載能力分析集，并基于電流承載能力分析集對半導體激光器的電流應力水平范圍進行界定，得到電流應力水平范圍界定集； 基于電流應力水平范圍界定集，對半導體激光器的整體老化進程進行時間規(guī)劃，得到整體老化進程時間規(guī)劃集，并對整體老化進程時間規(guī)劃集進行合理性驗證，得到定制化老化測試方案。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯(lián)系本專利的申請人或專利權人晉城市光機電產業(yè)協(xié)調服務中心(晉城市光機電產業(yè)研究院)，其通訊地址為：048000 山西省晉城市金鼎路雙創(chuàng)產業(yè)園(光機電加速器)6號樓3層；或者聯(lián)系龍圖騰網官方客服，聯(lián)系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。