買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標(biāo)用IPTOP,全免費！專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)獲悉新思科技有限公司申請的專利用于使用相關(guān)樣本生成及高效統(tǒng)計模擬來計算時序良率及良率瓶頸的方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN113474780B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202080015783.4，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F30/3315；該發(fā)明授權(quán)用于使用相關(guān)樣本生成及高效統(tǒng)計模擬來計算時序良率及良率瓶頸的方法是由J·勒;W·柴;L·丁設(shè)計研發(fā)完成，并于2020-02-26向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本用于使用相關(guān)樣本生成及高效統(tǒng)計模擬來計算時序良率及良率瓶頸的方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開用于確定參數(shù)時序良率及瓶頸的方法及設(shè)備的各種實施例，所述方法及設(shè)備通過設(shè)計中的集成電路芯片的共同時序弧考慮電路路徑之間的相關(guān)性。時序弧延遲的蒙特卡羅樣本經(jīng)生成并用于計算時序良率且識別良率瓶頸。

本發(fā)明授權(quán)用于使用相關(guān)樣本生成及高效統(tǒng)計模擬來計算時序良率及良率瓶頸的方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種用于計算具有多個時序弧及端點、所述時序弧的多個子集的集成電路IC的時序良率的方法，每一子集與端點相關(guān)聯(lián)，所述方法包括： a生成與第一IC樣本的每一時序弧相關(guān)聯(lián)的速度指數(shù)以確定隨機(jī)延遲值，其中相同的所述速度指數(shù)用于共同時序弧以確定與所述第一IC樣本的所述共同時序弧相關(guān)的信號路徑的所述隨機(jī)延遲值； b基于相關(guān)聯(lián)的所述速度指數(shù)、所述時序弧的延遲分布及路徑上下文來生成所述第一IC樣本的每一時序弧的第一延遲樣本； c確定所述第一IC樣本的每一端點的松弛度； d確定針對所述第一IC樣本確定的所述松弛度當(dāng)中的最差松弛度； e針對多個IC樣本重復(fù)a到d；及 f基于具有非負(fù)值的經(jīng)確定的最差松弛度的數(shù)目的相對于IC樣本的總數(shù)目的比率確定所述IC的時序良率。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人新思科技有限公司，其通訊地址為：美國加利福尼亞州；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。