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龍圖騰網獲悉深圳市紫光同創電子有限公司申請的專利存儲器測試方法、系統、設備及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114627950B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210157495.3，技術領域涉及：G11C29/18；該發明授權存儲器測試方法、系統、設備及存儲介質是由韋王宇;潘超設計研發完成，并于2022-02-21向國家知識產權局提交的專利申請。

本存儲器測試方法、系統、設備及存儲介質在說明書摘要公布了：本發明提出一種存儲器測試方法、系統、設備及存儲介質，該方法包括：根據待測存儲器的位寬，獲取測試輸入數據；根據測試輸入數據，按照預設時序規則，構造測試元素；對待測存儲器依次執行各個測試元素；預設時序規則滿足如下條件：讀完上一地址后，寫當前地址，上一地址對應的單元存儲值與當前地址對應的單元存儲值不等，上一地址和當前地址在邏輯地址順序上、在物理地址順序上均相鄰。本發明通過增加時序余量不足的測試元素，可以防止待測存儲器發生漏檢的情況，提高了該存儲器測試方法的測試覆蓋率，提高了出產存儲器的合格率，降低了使用者的因芯片不合格而帶來的損失。

本發明授權存儲器測試方法、系統、設備及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種存儲器測試方法，其特征在于，包括： 根據待測存儲器的位寬，獲取測試輸入數據； 根據所述測試輸入數據，按照預設時序規則，構造測試元素； 對所述待測存儲器依次執行各個測試元素，根據測試結果判斷所述待測存儲器是否合格； 所述預設時序規則滿足如下條件： （一）讀完上一地址后，寫當前地址，（二）所述上一地址對應的單元存儲值與所述當前地址對應的單元存儲值不等，（三）所述上一地址和所述當前地址在邏輯地址順序上、在物理地址順序上均相鄰； 所述根據所述測試輸入數據，按照預設時序規則，構造測試元素，包括： 對所述上一地址進行寫入所述測試輸入數據操作，寫入完成后，再以所述測試輸入數據為背景數據對所述上一地址進行讀操作； 對所述當前地址進行寫入相反測試數據操作，寫入完成后，再以所述相反測試數據為背景數據對所述當前地址進行讀操作，所述相反測試數據為所述測試輸入數據取反； 若所述上一地址的讀取值與所述當前地址對應的單元存儲值相等，則判斷所述待測存儲器存在時序余量不足的缺陷，否則，判斷所述待測存儲器合格； 按照地址序列升序的順序，將所述當前地址重新作為所述上一地址，將所述當前地址的下一地址重新作為所述當前地址，重復上述過程，對所有的地址檢測完。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人深圳市紫光同創電子有限公司，其通訊地址為：518000 廣東省深圳市南山區粵海街道高新區社區高新南一道015號國微研發大樓401；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。