廣東金鑒實驗室科技有限公司方方獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉廣東金鑒實驗室科技有限公司申請的專利一種發(fā)光器件、發(fā)光器件檢測方法及系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN115224177B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-23發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202210649505.5,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H10H20/853;該發(fā)明授權(quán)一種發(fā)光器件、發(fā)光器件檢測方法及系統(tǒng)是由方方;林凱旋;邱岳設(shè)計研發(fā)完成,并于2022-06-10向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種發(fā)光器件、發(fā)光器件檢測方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種發(fā)光器件、發(fā)光器件檢測方法及系統(tǒng),該發(fā)光器件的基板在發(fā)光芯片設(shè)置的表面上設(shè)置有反光面,反光面上設(shè)置有紋路,紋路為吸光結(jié)構(gòu);或基板在發(fā)光芯片設(shè)置的表面上設(shè)置有吸光面,吸光面上設(shè)置有紋路,紋路為反光結(jié)構(gòu)。對于檢測設(shè)備而言,通過發(fā)光器件的基板表面的結(jié)構(gòu)設(shè)計,會針對性的產(chǎn)生兩種光線,兩種光線在經(jīng)過封裝體處理后,會形成相對有序的可測定的光線組成,從而可供檢測設(shè)備進行檢測,有利于后續(xù)的質(zhì)量檢測,具有良好的實施便利性。
本發(fā)明授權(quán)一種發(fā)光器件、發(fā)光器件檢測方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了:1.一種發(fā)光器件檢測系統(tǒng),其特征在于,用于發(fā)光器件的檢測,所述發(fā)光器件,包括基板、發(fā)光芯片及封裝層,所述發(fā)光芯片鍵合在所述基板上,所述封裝層封裝在所述發(fā)光芯片上,所述封裝層為液滴結(jié)構(gòu)或半球體結(jié)構(gòu),其特征在于,所述基板在所述發(fā)光芯片設(shè)置的表面上設(shè)置有反光面,所述反光面上設(shè)置有紋路,所述紋路為吸光結(jié)構(gòu); 或所述基板在所述發(fā)光芯片設(shè)置的表面上設(shè)置有吸光面,所述吸光面上設(shè)置有紋路,所述紋路為反光結(jié)構(gòu); 所述發(fā)光器件檢測系統(tǒng)包括: 點光源,用于向四周穩(wěn)定發(fā)出檢測光線; 傳輸帶,軌跡為整圓并包圍所述點光源設(shè)置,用于運輸所述發(fā)光器件; 視覺檢測帶,與所述傳輸帶對應(yīng)設(shè)置,具有若干個位置固定的視覺檢測單元,所述發(fā)光器件在所述傳輸帶運行軌跡的任意位置上,所述檢測光線照射至所述發(fā)光器件的反光面或吸光面后的反射光線落在所述視覺檢測帶上; 處理模塊,用于接收環(huán)狀視覺檢測帶收到的反射光線的數(shù)據(jù)流,基于所述數(shù)據(jù)流對所述發(fā)光器件的質(zhì)量做出評價。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人廣東金鑒實驗室科技有限公司,其通訊地址為:511338 廣東省廣州市增城區(qū)永寧街香山大道2號(開發(fā)區(qū)管委會辦公大樓102室);或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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