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龍圖騰網獲悉中國科學院電工研究所申請的專利一種多功能計量測試平臺獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119738641B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411993686.9，技術領域涉及：G01R31/00；該發明授權一種多功能計量測試平臺是由王磊;楊軒艫;王康帥;周本哲;劉建華;戴銀明;王秋良設計研發完成，并于2024-12-31向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種多功能計量測試平臺在說明書摘要公布了：本發明涉及一種多功能計量測試平臺，屬于計量測試裝置設計領域，包括：真空磁屏結構，真空磁屏結構包括真空容器、真空閥門、絕熱固件、磁屏外室、磁屏內室；除塵模塊，固定安裝在真空磁屏結構內部，利用風道對樣品臺的器件做風淋除塵處理；制冷溫控模塊，制冷溫控模塊固定安裝在所述真空容器上，以控制樣品臺的溫度；控制臺，控制臺固定安裝在真空磁屏結構的外側，對所有的樣品的狀態進行統一控制。本發明可實現涵蓋針對不同種樣品的工作需求進行降溫、控溫、電磁屏蔽以及除塵等對應處理的功能。

本發明授權一種多功能計量測試平臺在權利要求書中公布了：1.一種多功能計量測試平臺，其特征在于，包括： 真空磁屏結構（100），所述真空磁屏結構（100）包括真空容器（101）、真空閥門（102）、絕熱固件（103）、磁屏外室（104）、磁屏內室（105），所述真空閥門（102）固定安裝在所述真空容器（101）的外表面上，所述真空容器（101）內部固定安裝所述絕熱固件（103），所述磁屏外室（104）固定安裝在所述真空容器（101）內，所述磁屏內室（105）套裝在所述磁屏外室（104）內； 除塵模塊（110），所述除塵模塊（110）置于所述真空容器（101）內，嵌裝在所述磁屏外室（104）和所述磁屏內室（105）之間形成的風道（115）內； 制冷溫控模塊（120），所述制冷溫控模塊（120）固定安裝在所述真空容器（101）上，同時貫穿延伸進入所述真空容器（101）中與所述磁屏內室（105）固定連接； 控制臺（130），所述控制臺（130）固定安裝在所述真空容器（101）外側；操作人員通過控制臺（130）對除塵模塊（110）和制冷溫控模塊（120）進行控制，并通過控制臺（130）監測真空磁屏結構（100）內部的真空度、溫度以及磁場。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院電工研究所，其通訊地址為：100190 北京市海淀區中關村北二條6號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。