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龍圖騰網獲悉中國科學院上海微系統與信息技術研究所申請的專利全張量磁梯度探頭的誤差校正方法、系統、設備及介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120178113B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510298603.2，技術領域涉及：G01R33/022；該發明授權全張量磁梯度探頭的誤差校正方法、系統、設備及介質是由榮亮亮;劉婷麗;邱隆清;張國峰;伍俊設計研發完成，并于2025-03-13向國家知識產權局提交的專利申請。

本全張量磁梯度探頭的誤差校正方法、系統、設備及介質在說明書摘要公布了：本申請提供一種全張量磁梯度探頭的誤差校正方法，所述方法包括：獲取全張量磁梯度探頭的芯片誤差數據；所述芯片誤差數據包括全張量磁梯度探頭的全張量磁梯度和平面梯度計的梯度；所述全張量磁梯度探頭設置有至少一所述平面梯度計；各所述平面梯度計設置有所述芯片；根據所述全張量磁梯度和各所述平面梯度計的梯度獲取各所述平面梯度計的誤差角度；根據各所述平面梯度計的誤差角度對所述全張量磁梯度進行芯片角度誤差校正，獲取校正后的全張量磁梯度。本申請通過全張量磁梯度探頭的全張量磁梯度和各平面梯度計的梯度對比的方式，獲得各平面梯度計的誤差角度，從而完成了全張量磁梯度探頭芯片角度誤差的校正，提高了全張量磁梯度數據的準確性。

本發明授權全張量磁梯度探頭的誤差校正方法、系統、設備及介質在權利要求書中公布了：1.一種全張量磁梯度探頭的誤差校正方法，其特征在于，所述方法包括： 獲取全張量磁梯度探頭的芯片誤差數據；所述芯片誤差數據包括全張量磁梯度探頭的全張量磁梯度和平面梯度計的梯度；所述全張量磁梯度探頭設置有至少一所述平面梯度計；各所述平面梯度計設置有所述芯片； 根據所述全張量磁梯度和各所述平面梯度計的梯度獲取各所述平面梯度計的誤差角度； 根據各所述平面梯度計的誤差角度對所述全張量磁梯度進行芯片角度誤差校正，獲取校正后的全張量磁梯度； 根據所述全張量磁梯度和各所述平面梯度計的梯度獲取各所述平面梯度計的誤差角度包括： 根據所述全張量磁梯度和各所述平面梯度計的梯度構建各所述平面梯度計的誤差方程；獲取各所述平面梯度計的向量參數；所述向量參數包括基線矢量和平面法向量；根據各所述平面梯度計的基線矢量和平面法向量、所述全張量磁梯度和各所述平面梯度計的梯度構建各所述平面梯度計的誤差方程； 其中，gij＝[gi1，gi2，gi3]為第i片SQUID平面梯度計輸出的梯度值，G1為全張量磁梯度探頭的全張量磁梯度，為第i片平面梯度計的下拾取環中心指向上拾取環中心的基線矢量，為第i片平面梯度計的平面法向量，β1i，β2i，β3i分別為第i片平面梯度計的偏移角、傾角和側翻角，Li為第i片平面梯度計的基線長度； 根據各所述平面梯度計的誤差方程利用牛頓迭代法分別進行求解，獲取各所述平面梯度計的誤差角度；所述誤差角度包括傾角、偏移角和或側翻角。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院上海微系統與信息技術研究所，其通訊地址為：200050 上海市長寧區長寧路865號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。