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龍圖騰網獲悉上海精珅新材料有限公司申請的專利一種光學保護膜的疵點檢測方法、系統及設備獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120451174B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202510961711.3，技術領域涉及：G06T7/00；該發(fā)明授權一種光學保護膜的疵點檢測方法、系統及設備是由馬賽賽;孫攀設計研發(fā)完成，并于2025-07-14向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種光學保護膜的疵點檢測方法、系統及設備在說明書摘要公布了：本申請涉及圖像處理技術領域，具體涉及一種光學保護膜的疵點檢測方法、系統及設備，該方法包括：獲得每幀薄膜灰度圖像，提取每幀薄膜灰度圖像內的薄膜區(qū)域及其所有輪廓邊緣；確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣對應的匹配輪廓邊緣；確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣的相對位移差異、運動異常度；確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣的扭曲可能度；確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣的薄膜彎曲程度、缺陷判斷系數，對光學保護膜的表面進行疵點檢測。本申請能夠更加準確的辨別光學保護膜表面的疵點缺陷和光斑，提高對光學保護膜表面上疵點缺陷的檢測精度。

本發(fā)明授權一種光學保護膜的疵點檢測方法、系統及設備在權利要求書中公布了：1.一種光學保護膜的疵點檢測方法，其特征在于，該方法包括以下步驟： 對傳送帶上光學保護膜的表面進行連續(xù)采集，獲得每幀薄膜灰度圖像，提取每幀薄膜灰度圖像內的薄膜區(qū)域及其所有輪廓邊緣； 根據相鄰兩幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內輪廓邊緣的距離關系，確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣對應的匹配輪廓邊緣；根據每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣與其對應的匹配輪廓邊緣之間運動的方向向量的變化情況，確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣的相對位移差異；分析每條輪廓邊緣與其對應的匹配輪廓邊緣之間輪廓的相似情況，結合所述相對位移差異，確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣的運動異常度； 根據每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域的每條輪廓邊緣內各像素點局部鄰域中不同像素點的梯度分布情況，以及局部鄰域內不同像素點的梯度的差異變化，確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣的扭曲可能度；根據每條輪廓邊緣與其對應的匹配輪廓邊緣的所述扭曲可能度，確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣的薄膜彎曲程度； 基于所述運動異常度和所述薄膜彎曲程度，確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域中每條輪廓邊緣的缺陷判斷系數，對光學保護膜的表面進行疵點檢測； 所述確定每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣的扭曲可能度，包括： 若每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣內任一像素點的梯度在其鄰域內最大，將所述任一像素點記為梯度像素點； 以每條輪廓邊緣內各像素點為中心，設置預設尺寸的局部窗口； 計算所述局部窗口內任一梯度像素點與其度量距離最近的梯度像素點的梯度的均值，記為所述任一梯度像素點的第一均值，將所述度量距離記為第二距離； 將所述每條輪廓邊緣內各像素點的局部窗口內所述任一梯度像素點與其距離最近的梯度像素點作為線段的端點進行連接，將連接線段上除端點外其余所有像素點的梯度的均值，記為所述任一梯度像素點的第二均值； 將所述第一均值與所述第二均值的比值，作為所述任一梯度像素點的梯度系數； 計算所述局部窗口內所有梯度像素點的所述第二距離的倒數與所述梯度系數的乘積的均值，記為局部梯度值； 將每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣內所有像素點的所述局部梯度值的均值，作為每幀薄膜灰度圖像的薄膜區(qū)域內每條輪廓邊緣的扭曲可能度。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人上海精珅新材料有限公司，其通訊地址為：201517 上海市金山區(qū)金山工業(yè)區(qū)金舸路288號9幢；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。