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龍圖騰網獲悉深圳大普微電子科技有限公司申請的專利一種數據保存期的預測方法及相關組件獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114297096B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111679426.0，技術領域涉及：G06F12/02；該發明授權一種數據保存期的預測方法及相關組件是由王巖;楊亞飛設計研發完成，并于2021-12-31向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種數據保存期的預測方法及相關組件在說明書摘要公布了：本發明公開了一種數據保存期的預測方法及相關組件，在確定了樣本存儲數據區域中的N個采樣存儲單元后，首先基于各個第一采樣存儲單元的最小單元存儲數據的錯誤情況來建立各個第一采樣存儲單元對應的第一錯誤混淆矩陣，通過對各個第一錯誤混淆矩陣執行機器學習操作，以獲得數據保存期預測模型，從而在期望對待測存儲數據區域的數據保存期進行預測時，利用數據保存期預測模型對待測存儲數據區域的數據保存期進行預測。可見，本申請中先通過樣本存儲數據區域建立數據保存期預測模型，以便待測存儲數據區域均能夠根據數據保存期預測模型進行數據保存期的預測，從而根據預測的數據保存期對待測存儲數據區域存儲的數據進行處理，避免存儲數據的丟失。

本發明授權一種數據保存期的預測方法及相關組件在權利要求書中公布了：1.一種數據保存期的預測方法，其特征在于，包括： 確定樣本存儲數據區域中的N個第一采樣存儲單元，其中N為正整數； 基于各個所述第一采樣存儲單元的最小單元存儲數據的錯誤情況建立各個所述第一采樣存儲單元對應的第一錯誤混淆矩陣； 對各個所述第一錯誤混淆矩陣執行機器學習，以獲得數據保存期預測模型； 利用所述數據保存期預測模型對待測存儲數據區域的數據保存期進行預測； 所述基于各個所述第一采樣存儲單元的最小單元存儲數據的錯誤情況建立各個所述第一采樣存儲單元對應的第一錯誤混淆矩陣，包括： 基于各個所述第一采樣存儲單元的最小單元中每個比特的存儲電量的變化確定所述最小單元中的編程狀態的變化關系，以對最小單元可能發生的數據錯誤進行錯誤分類； 按照所述錯誤分類統計各個所述第一采樣存儲單元中最小單元存儲數據的錯誤情況，以獲得各個所述第一采樣存儲單元對應的每類錯誤的錯誤統計個數； 基于各個所述第一采樣存儲單元對應的所述每類錯誤的錯誤統計個數建立對應的所述第一錯誤混淆矩陣； 利用所述數據保存期預測模型對待測存儲數據區域的數據保存期進行預測之后，還包括： 判斷所述待測存儲數據區域的數據保存期是否小于預設保質期閾值； 若是，則將所述待測存儲數據區域存儲的數據進行重寫或轉移至備用存儲位置； 若否，則保留所述待測存儲數據區域存儲的數據。

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