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龍圖騰網獲悉南京航空航天大學;西安空間無線電技術研究所申請的專利一種建立火星電離層白天電子密度模型的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115758724B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211439400.3，技術領域涉及：G06F30/20；該發明授權一種建立火星電離層白天電子密度模型的方法是由黃朝艷;葛春雨;吳森妮;王義元;趙啟龍;蒯家偉設計研發完成，并于2022-11-17向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種建立火星電離層白天電子密度模型的方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種建立火星電離層白天電子密度模型的方法，步驟如下：將火星電離層分成M1M2層、過渡層和頂層；建立M1M2層隨太陽天頂角和海拔高度變化的電子密度模型；建立過渡層隨太陽天頂角和海拔高度變化的電子密度模型；建立頂層隨海拔高度變化的電子密度模型；組合得到火星電離層白天電子密度模型。本發明的方法通過分層建模技術，建立了一個包含M1層和M2層以上部分電子密度的多層電子密度計算模型，新模型較只考慮M2層的局部Chapman模型更加完整、精準。

本發明授權一種建立火星電離層白天電子密度模型的方法在權利要求書中公布了：1.一種建立火星電離層白天電子密度模型的方法，其特征在于，步驟如下： 1將火星電離層分成M1M2層、過渡層和頂層； 2建立M1M2層隨太陽天頂角和海拔高度變化的電子密度模型； 3建立過渡層隨太陽天頂角和海拔高度變化的電子密度模型； 4建立頂層隨海拔高度變化的電子密度模型； 5組合得到火星電離層白天電子密度模型； 步驟2具體包括： M1M2層受光化學過程影響，電子密度具有顯著的雙峰值分布特征，電子密度峰值和電子密度峰值對應的海拔高度隨太陽天頂角的變化均符合Chapman理論；采用雙Chapman模型描述M1M2層白天電子密度隨太陽天頂角和海拔高度的變化，具體如下： 式中，為隨太陽天頂角和海拔高度變化的M1M2層電子密度，SZA為太陽天頂角，白天即SZA∈0,90°，z為火星海拔高度，下標字符型變量α分別取M1和M2，Nmα為給定SZA下的峰值電子密度，Nm0α為日下點峰值電子密度，kα為決定光化學過程的參數，zmα為給定SZA下的峰值電子密度對應的海拔高度，zmα＝zm0α+Hln[secSZA]，zm0α為日下點峰值電子密度對應的海拔高度，H為中性大氣標高； 公式1中，待定參數為kα、H、Nm0α和zm0α；待定參數kα直接采用已有的經驗值：對于α＝M1，太陽活動高年、中年、低年三種情形，對應值分別為0.53、0.551±0.024、0.55；對于α＝M2，太陽活動高年、中年、低年三種情形，對應值分別為0.49、0.465±0.010、0.42；將火星全球探勘者號衛星探測的海拔高度、太陽天頂角和電子密度數據代入公式1中，利用matlab中cftool工具箱中自定義方程擬合，得到剩余的模型參數H、 和 步驟3具體包括： 過渡層電子密度同時受光化學過程和輸運過程影響，光化學過程采用步驟2中已建立的模型描述，輸運過程采用電子密度隨海拔高度變化呈半拋物線型的計算模型進行補償，具體如下： 式中，ΝeMID為隨太陽天頂角和海拔高度變化的過渡層電子密度，az2+2a·bz+c為半拋物線型的計算模型，z為火星海拔高度，a、b和c為模型待定系數；將火星全球探勘者號衛星探測的海拔高度、太陽天頂角和電子密度數據分別代入公式2中，利用matlab中cftool工具箱中二階多項式擬合，得到模型系數a、b和c； 步驟4具體包括： 頂層電子密度受輸運過程影響，隨海拔高度增加呈指數下降，采用指數型計算模型，具體如下： NeTOPz＝NTOPexp-kTOPz3 式中，ΝeTOP為隨海拔高度變化的頂層電子密度，z為火星海拔高度，NTOP和kTOP為模型參數；將火星全球探勘者號衛星探測的海拔高度和電子密度數據代入公式3中，利用matlab中cftool工具箱中自定義方程擬合，得到模型參數NTOP和kTOP。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人南京航空航天大學;西安空間無線電技術研究所，其通訊地址為：210016 江蘇省南京市秦淮區御道街29號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。