宜昌測試技術(shù)研究所程華富獲國家專利權(quán)
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便!
龍圖騰網(wǎng)獲悉宜昌測試技術(shù)研究所申請的專利一種光泵磁強計的磁場噪聲校準裝置及方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN116008886B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-19發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202211472184.2,技術(shù)領域涉及:G01R35/00;該發(fā)明授權(quán)一種光泵磁強計的磁場噪聲校準裝置及方法是由程華富;韓曉東;周昌劍;李小芳;吳園設計研發(fā)完成,并于2022-11-23向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種光泵磁強計的磁場噪聲校準裝置及方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明提供一種光泵磁強計的磁場噪聲校準裝置及方法,無矩線圈A、無矩線圈B和干擾磁場補償線圈串聯(lián),可確保三者在工作時通過的電路大小時時相等,使得標準光泵磁強計、被校光泵磁強計、質(zhì)子磁強計所在的三個位置線圈常數(shù)相等,通過的電流也相等,則復現(xiàn)的抵消磁場也相等,從而可以對干擾磁場補償線圈在無矩線圈A中心點與無矩線圈B中心點、磁場線圈中心點之間的線圈常數(shù)差異進行補償,避免標準光泵磁強計與被校光泵磁強計因距離較近相互影響的同時,消除因光泵探頭超出均勻區(qū)范圍而引起的線圈常數(shù)差異,最終被校準光泵磁強計、標準光泵磁強計與中心點的質(zhì)子磁強計同步實現(xiàn)干擾磁場的補償,且補償后的效果相同,實現(xiàn)被校光泵磁強計的精確校準。
本發(fā)明授權(quán)一種光泵磁強計的磁場噪聲校準裝置及方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種光泵磁強計的磁場噪聲校準裝置,其特征在于,包括無矩線圈A、無矩線圈B、質(zhì)子磁強計、標準光泵磁強計以及共骨架的標準磁場復現(xiàn)線圈與干擾磁場補償線圈;其中,無矩線圈A、無矩線圈B與干擾磁場補償線圈串連形成組合補償線圈; 所述標準磁場復現(xiàn)線圈用于補償?shù)卮艌龉潭ǚ至浚⒂糜趶同F(xiàn)設定范圍內(nèi)任意強度的標準磁場;質(zhì)子磁強計放置在標準磁場復現(xiàn)線圈的中心,用于測量復現(xiàn)的標準磁場,得到標準磁場的準確值;無矩線圈A和無矩線圈B分別放置在標準磁場復現(xiàn)線圈中心點的兩側(cè),且與中心點的距離相等;標準光泵磁強計與被校光泵磁強計分別放置在無矩線圈A和無矩線圈B的中心,其中,標準光泵磁強計用于跟蹤測量干擾磁場;組合補償線圈用于復現(xiàn)一個與干擾磁場大小相等、方向相反的抵消磁場;被校光泵磁強計的示值用于獲取被校光泵磁強計的磁場噪聲峰峰值或磁場噪聲功率譜密度,還用于與質(zhì)子磁強計的示值作對比,得到被校準光泵磁強計的示值誤差。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人宜昌測試技術(shù)研究所,其通訊地址為:443003 湖北省宜昌市西陵區(qū)勝利三路58號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
1、本報告根據(jù)公開、合法渠道獲得相關數(shù)據(jù)和信息,力求客觀、公正,但并不保證數(shù)據(jù)的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結(jié)論僅反映本公司于發(fā)布本報告當日的職業(yè)理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據(jù)或者憑證。