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龍圖騰網(wǎng)獲悉西湖大學(xué)光電研究院申請(qǐng)的專利一種高增益雙極化毫米波波束掃描天線獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN120320081B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-16發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202510771783.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：H01Q15/24；該發(fā)明授權(quán)一種高增益雙極化毫米波波束掃描天線是由阮涵馳;徐小文;李偉設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-06-11向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種高增益雙極化毫米波波束掃描天線在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種高增益雙極化毫米波波束掃描天線，包括：高增益雙極化毫米波波束掃描天線，所述高增益雙極化毫米波波束掃描天線由平面微帶天線陣列、反射聚焦超表面以及射頻開關(guān)組成，所述平面微帶天線陣列作為該高增益波束掃描超表面天線的饋源，可減小天線整體的剖面和體積，饋源天線發(fā)射出來的電磁波經(jīng)過不同距離的路徑到達(dá)超表面上的各個(gè)基元，產(chǎn)生不同的反射相位以調(diào)控反射波束聚焦的角度，從而實(shí)現(xiàn)不同角度的波束掃描。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)具有高增益的毫米波掃描天線，主瓣增益大于等于19.3dBi，并降低副瓣電平保持在小于?12dB的水平，將毫米波能量精準(zhǔn)聚焦為窄波束，可以彌補(bǔ)毫米波傳播路徑損耗大帶來的信號(hào)損失，延長有效傳輸距離。

本發(fā)明授權(quán)一種高增益雙極化毫米波波束掃描天線在權(quán)利要求書中公布了：1.一種高增益雙極化毫米波波束掃描天線，其特征在于：包括：高增益雙極化毫米波波束掃描天線，所述高增益雙極化毫米波波束掃描天線由平面微帶天線陣列、反射聚焦超表面以及射頻開關(guān)組成，所述平面微帶天線陣列作為該波束掃描天線的饋源，可減小天線整體的剖面和體積，饋源天線發(fā)射出來的電磁波經(jīng)過不同距離的路徑到達(dá)超表面上的各個(gè)基元，產(chǎn)生不同的反射相位以調(diào)控反射波束聚焦的角度，從而實(shí)現(xiàn)不同角度的波束掃描，所述反射聚焦超表面設(shè)計(jì)時(shí)，其單元對(duì)反射相位的調(diào)控范圍需要覆蓋360°，并且在二維平面內(nèi)相位補(bǔ)償要滿足雙曲面分布，通常采用改變單元的尺寸來調(diào)控相位，為了方便地在一種超表面上實(shí)現(xiàn)對(duì)兩個(gè)正交極化的分別聚焦，需要設(shè)計(jì)處能夠獨(dú)立操控x極化和y極化入射波的超表面基元，即改變基元一個(gè)方向的尺寸僅影響與該方向平行的入射波的反射相位，對(duì)極化與之正交的入射波的反射相位不產(chǎn)生影響； 所述高增益雙極化毫米波波束掃描天線中包括x極化微帶天線陣列和y極化微帶天線陣列，所述x極化微帶天線陣列和y極化微帶天線陣列的饋源同為繞中心原點(diǎn)旋轉(zhuǎn)90°的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱關(guān)系； 天線陣元從上往下依次包括金屬微帶饋線及矩形貼片層、介質(zhì)基板、金屬地板層；微帶饋線由四分之一波長變換器與50歐姆微帶線組成。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)＠麢?quán)人西湖大學(xué)光電研究院，其通訊地址為：311400 浙江省杭州市富陽區(qū)春江街道江南路68號(hào)；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。