北京航力安太科技有限責(zé)任公司李長城獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉北京航力安太科技有限責(zé)任公司申請的專利一種內(nèi)窺鏡探頭的三維測量監(jiān)測系統(tǒng)及監(jiān)測方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN120314334B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-16發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202510779953.0,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01N21/954;該發(fā)明授權(quán)一種內(nèi)窺鏡探頭的三維測量監(jiān)測系統(tǒng)及監(jiān)測方法是由李長城;楊玉紅;蘭毓華;鄔忠俊設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2025-06-12向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種內(nèi)窺鏡探頭的三維測量監(jiān)測系統(tǒng)及監(jiān)測方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種內(nèi)窺鏡探頭的三維測量監(jiān)測系統(tǒng)及監(jiān)測方法,涉及三維測量監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域。該內(nèi)窺鏡探頭的三維測量監(jiān)測系統(tǒng),包括:測量位置匹配度分析模塊、曲率分析模塊和測量準(zhǔn)確度分析模塊。本發(fā)明通過對待測目標(biāo)在第一監(jiān)測時(shí)段結(jié)束時(shí)的反射光相位狀態(tài)進(jìn)行測量位置匹配度分析,以判斷是否進(jìn)行反射件參數(shù)更新,同時(shí)基于獲取的曲率變化率判斷是否進(jìn)行測量策略優(yōu)化,隨后進(jìn)行第二監(jiān)測時(shí)段結(jié)束時(shí)的測量準(zhǔn)確度分析以判斷是否進(jìn)行探頭參數(shù)更新,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了高反光金屬曲面在三維測量監(jiān)測過程中裂紋識別準(zhǔn)確性的提高,解決了現(xiàn)有技術(shù)中高反光金屬曲面在內(nèi)窺鏡探頭進(jìn)行三維測量監(jiān)測過程中裂紋區(qū)域識別準(zhǔn)確性不高的問題。
本發(fā)明授權(quán)一種內(nèi)窺鏡探頭的三維測量監(jiān)測系統(tǒng)及監(jiān)測方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種內(nèi)窺鏡探頭的三維測量監(jiān)測系統(tǒng),其特征在于,包括:測量位置匹配度分析模塊、曲率分析模塊和測量準(zhǔn)確度分析模塊; 其中,所述測量位置匹配度分析模塊用于根據(jù)獲取的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)對待測目標(biāo)在第一監(jiān)測時(shí)段結(jié)束時(shí)的反射光相位狀態(tài)進(jìn)行測量位置匹配度分析,得到測量位置匹配度分析結(jié)果,所述三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)用于反映預(yù)設(shè)監(jiān)測區(qū)域內(nèi)的內(nèi)窺鏡探頭在插入待測目標(biāo)表面時(shí)對應(yīng)待測目標(biāo)表面的立體匹配狀態(tài),所述三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)包括鏡頭屏幕亮度、鏡頭反射傾角和鏡頭中心距,所述預(yù)設(shè)監(jiān)測區(qū)域中至少設(shè)有一個(gè)探頭監(jiān)測點(diǎn),所述測量位置匹配度分析用于量化待測目標(biāo)的表面裂紋位置與對應(yīng)參考裂紋監(jiān)測位置之間的符合程度; 所述曲率分析模塊用于根據(jù)測量位置匹配度分析結(jié)果判斷是否進(jìn)行反射件參數(shù)更新,同時(shí)基于獲取的曲率變化率判斷是否進(jìn)行測量策略優(yōu)化,所述反射件參數(shù)更新表示測量位置匹配度分析結(jié)果不滿足需求時(shí)基于獲取的測量位置匹配度分析值更新內(nèi)窺鏡探頭中可拆卸反射件對應(yīng)的反射傾角,所述曲率變化率是基于裂紋區(qū)域邊緣的曲率與弧長獲取的,用于量化待測目標(biāo)所在裂紋區(qū)域的曲率變化情況的數(shù)據(jù),所述測量策略優(yōu)化表示通過調(diào)整鏡頭倍數(shù)和光源波長以提高內(nèi)窺鏡探頭的分辨率與視場之間的平衡程度; 所述測量準(zhǔn)確度分析模塊用于根據(jù)獲取的三維測量數(shù)據(jù)對待測目標(biāo)在第二監(jiān)測時(shí)段結(jié)束時(shí)的剖面視圖進(jìn)行測量準(zhǔn)確度分析,得到測量準(zhǔn)確度分析結(jié)果,同時(shí)基于測量準(zhǔn)確度分析結(jié)果判斷是否進(jìn)行探頭參數(shù)更新,所述三維測量數(shù)據(jù)包括點(diǎn)云密度、散斑噪聲強(qiáng)度和裂紋深度諧波幅度,所述測量準(zhǔn)確度分析用于量化內(nèi)窺鏡探頭對待測目標(biāo)表面進(jìn)行裂紋測量的準(zhǔn)確度,所述剖面視圖用于可視化待測目標(biāo)表面的裂紋狀態(tài)在第二監(jiān)測時(shí)段內(nèi)的變化情況,所述探頭參數(shù)更新表示通過調(diào)整光源電流和探頭傾角以抑制環(huán)境光干擾。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人北京航力安太科技有限責(zé)任公司,其通訊地址為:100000 北京市房山區(qū)卓秀北街10號院2號樓16層1601;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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