安徽創譜儀器科技有限公司朱寧獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉安徽創譜儀器科技有限公司申請的專利一種X射線光源光斑尺寸的測試方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120426915B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510856729.7，技術領域涉及：G01B15/00；該發明授權一種X射線光源光斑尺寸的測試方法及系統是由朱寧;申錦;朱濤;徐凱設計研發完成，并于2025-06-25向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種X射線光源光斑尺寸的測試方法及系統在說明書摘要公布了：本公開屬于X射線成像技術領域，特別涉及一種X射線光源光斑尺寸的測試方法及系統。所述方法包括：選定目標晶體，并設定X射線投射在目標晶體上的光斑尺寸；獲取X射線光源到目標晶體的距離和探測器焦點到目標晶體的距離，結合光斑尺寸，得到幾何放大效應；根據達爾文寬度和探測器焦點到目標晶體的距離，獲取晶體衍射影響焦點寬度；對幾何放大效應和晶體衍射影響焦點寬度進行計算，得到實際光斑尺寸。本公開能夠使用彎晶成像的方案對光源光斑直接單色聚焦成像，通過遠高于小孔成像的空間分辨率以及單色成像的特點，可以實現X射線光源光斑的精確測量。
本發明授權一種X射線光源光斑尺寸的測試方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種X射線光源光斑尺寸的測試方法，其特征在于，所述方法包括： 選定目標晶體，并設定X射線投射在目標晶體上的光斑尺寸； 獲取X射線光源到目標晶體的距離和探測器焦點到目標晶體的距離，結合光斑尺寸，得到幾何放大效應，包括： ； 其中，為幾何放大效應；s為光斑尺寸；為X射線光源到目標晶體的距離；為探測器焦點到目標晶體的距離； 根據達爾文寬度和探測器焦點到目標晶體的距離，獲取晶體衍射影響焦點寬度，包括： ； 其中，為晶體衍射影響焦點展寬；為達爾文寬度；為探測器焦點到目標晶體的距離； 對幾何放大效應和晶體衍射影響焦點寬度進行計算，得到實際光斑尺寸，包括： ； 其中，為實際光斑尺寸，為晶體衍射影響焦點展寬；為幾何放大效應。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人安徽創譜儀器科技有限公司，其通訊地址為：230094 安徽省合肥市高新區蜀麓社區服務中心華佗巷103號英唐產業園二期11棟；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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