西安紫光國芯半導體有限公司江喜平獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉西安紫光國芯半導體有限公司申請的專利基于串行接口的存儲測試方法、存儲芯片及相關設備獲國家發(fā)明授權專利權,本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115480959B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉:該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為:202110602614.7,技術領域涉及:G06F11/22;該發(fā)明授權基于串行接口的存儲測試方法、存儲芯片及相關設備是由江喜平;左豐國;王玉冰;樊世杰設計研發(fā)完成,并于2021-05-31向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于串行接口的存儲測試方法、存儲芯片及相關設備在說明書摘要公布了:本申請實施例通過提供一種基于串行接口的存儲測試方法及相關設備,實現了測試過程中的問題快速定位。該方法包括:通過第一線路執(zhí)行讀寫操作,并獲取對應的第一讀寫信息,第一線路包括用于模擬串行接口及中間協議層的第一模擬模塊、存儲控制模塊及存儲模塊;通過第二線路執(zhí)行讀寫操作,并獲取對應的第二讀寫信息,第二線路包括串行接口、中間協議層以及用于模擬存儲控制模塊及存儲模塊的第二模擬模塊;分別判斷第一讀寫信息、第二讀寫信息是否符合預設讀寫標準;若第一讀寫信息不符合預設讀寫標準,則確定存儲控制模塊及存儲模塊間數據存儲異常;若第二讀寫信息不符合預設讀寫標準,則確定串行接口及中間協議層間數據存儲異常。
本發(fā)明授權基于串行接口的存儲測試方法、存儲芯片及相關設備在權利要求書中公布了:1.一種基于串行接口的存儲測試方法,其特征在于,包括: 通過第一線路執(zhí)行讀寫操作,并獲取對應的第一讀寫信息,其中,所述第一線路包括第一模擬模塊、存儲控制模塊及存儲模塊,所述第一模擬模塊用于模擬串行接口及中間協議層,所述第一讀寫信息用于表征通過所述第一模擬模塊、所述存儲控制模塊及所述存儲模塊執(zhí)行讀寫操作時的數據傳輸信息; 通過第二線路執(zhí)行讀寫操作,并獲取對應的第二讀寫信息,其中,所述第二線路包括串行接口、中間協議層以及第二模擬模塊,所述第二模擬模塊用于模擬存儲控制模塊及存儲模塊,所述第二讀寫信息用于表征通過所述串行接口、所述中間協議層以及所述第二模擬模塊執(zhí)行讀寫操作時數據傳輸信息; 分別判斷所述第一讀寫信息、所述第二讀寫信息是否符合預設讀寫標準; 若所述第一讀寫信息不符合所述預設讀寫標準,則確定所述存儲控制模塊及所述存儲模塊間數據存儲異常; 若所述第二讀寫信息不符合所述預設讀寫標準,則確定所述串行接口及所述中間協議層間數據存儲異常。
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