買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉磁菱科技(福州)有限責任公司申請的專利一種基于磁位分布計算的開合式剛性羅氏線圈獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115236570B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210815687.9，技術領域涉及：G01R33/12；該發明授權一種基于磁位分布計算的開合式剛性羅氏線圈是由趙琰;張剛;劉寧;何謀設計研發完成，并于2022-07-12向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于磁位分布計算的開合式剛性羅氏線圈在說明書摘要公布了：本發明涉及儀器儀表技術領域，公開了一種基于磁位分布計算的開合式剛性羅氏線圈，包括相互對合形成閉環結構的第一殼體和第二殼體，第一殼體內設有第一線圈，第二殼體內設有第二線圈，第一殼體內設有第一屏蔽線圈，第一屏蔽線圈在第一殼體內的位置設置基于磁位分布計算方法進行設定，第一殼體與第二殼體相互對合形成閉環結構時第一線圈和第二線圈的對應側端部均伸入第一屏蔽線圈內，第二殼體內設有第二屏蔽線圈，第二屏蔽線圈在第二殼體內的位置設置基于磁位分布計算方法進行設定，第一殼體與第二殼體相互對合形成閉環結構時第一線圈和第二線圈的對應側端部均伸入第二屏蔽線圈內；本發明具有測量精度高、抗干擾能力好的特點。

本發明授權一種基于磁位分布計算的開合式剛性羅氏線圈在權利要求書中公布了：1.一種基于磁位分布計算的開合式剛性羅氏線圈，其特征在于：包括相互對合形成閉環結構的第一殼體（1）和第二殼體（2），第一殼體（1）的其中一側端部上設有第一插接塊（3），另一側端部上開設有第一插接槽（4），第二殼體（2）的其中一側端部上設有第二插接塊（5），另一側端部上開設有第二插接槽（6），第一殼體（1）與第二殼體（2）相互對合形成閉環結構時第一插接塊（3）插接入第二插接槽（6）內，第二插接塊（5）插接入第一插接槽（4）內； 第一殼體（1）內設有第一線圈（7），第二殼體（2）內設有第二線圈（8），第一殼體（1）與第二殼體（2）相互對合形成閉環結構時第一線圈（7）的兩端部與第二線圈（8）的對應側端部相互貼近，且第一線圈（7）的對應側端部進入第二插接槽（6）內、第二線圈（8）的對應側端部進入第一插接槽（4）內； 第一殼體（1）內設有第一屏蔽線圈（9），第一屏蔽線圈（9）在第一殼體（1）內的位置設置按照磁位分布計算方法進行設定，第一殼體（1）與第二殼體（2）相互對合形成閉環結構時第一線圈（7）和第二線圈（8）的對應側端部均伸入第一屏蔽線圈（9）內，第二殼體（2）內設有第二屏蔽線圈（10），第二屏蔽線圈（10）在第二殼體（2）內的位置設置按照磁位分布計算方法進行設定，第一殼體（1）與第二殼體（2）相互對合形成閉環結構時第一線圈（7）和第二線圈（8）的對應側端部均伸入第二屏蔽線圈（10）內； 所述磁位分布計算方法包括以下步驟： 計算線圈內徑任意點坐標、線圈外徑任意點坐標和線圈的磁位分布路徑向量； 計算線圈內徑電流在線圈內某一點上的磁場強度向量、線圈外徑電流在線圈內某一點上的磁場強度向量和線圈內徑電流、外徑電流在某一路徑上產生的磁壓降分布； 根據磁壓降分布獲取線圈骨架表面任意點的磁位分布情況和磁場泄漏量，以判斷線圈的精度性能和抗干擾性能； 獲取致密均勻繞制的圓環形骨架羅氏線圈表面的磁位分布圖和繞線不均勻或存在繞線缺口的圓環形骨架羅氏線圈表面的磁位分布圖，通過對比磁位分布圖判斷線圈磁位分布落差最大的位置； 第一殼體（1）內還設有第一屏蔽環（11），第一屏蔽環（11）一端接于第一線圈（7）上，另一端環繞第一線圈（7）的外環部后穿入第一屏蔽線圈（9）內，且第一屏蔽環（11）接于第一線圈（7）上的端部位置設置滿足在第一殼體（1）與第二殼體（2）相互對合形成閉環結構時，第一屏蔽環（11）與第一線圈（7）的連接端部位于第二屏蔽線圈（10）內，第二殼體（2）內還設有第二屏蔽環（12），第二屏蔽環（12）一端接于第二線圈（8）上，另一端環繞第二線圈（8）的外環部后穿入第二屏蔽線圈（10）內，且第二屏蔽環（12）接于第二線圈（8）上的端部位置設置滿足在第一殼體（1）與第二殼體（2）相互對合形成閉環結構時，第二屏蔽環（12）與第二線圈（8）的連接端部位于第一屏蔽線圈（9）內。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人磁菱科技(福州)有限責任公司，其通訊地址為：350108 福建省福州市閩侯縣上街鎮學園路2號福州大學科技園陽光科技大廈北910室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。