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龍圖騰網獲悉北京理工大學申請的專利一種探地雷達分層介質參數反演方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114994658B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210201235.1，技術領域涉及：G01S13/88；該發明授權一種探地雷達分層介質參數反演方法是由楊小鵬;劉仁杰;李奕璇;蘭天;渠曉東設計研發完成，并于2022-03-03向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種探地雷達分層介質參數反演方法在說明書摘要公布了：本發明提出了一種探地雷達分層介質參數反演方法，能夠在計算量小的前提下實現分層介質的精確反演，適用于多層介質模型。本發明首先通過傳統CMP方法實現第一層參數反演，然后利用該信息，基于分層介質模型構建不同偏移距下的傳播方程，同時利用斯涅爾定律表示分層界面折射點位置，最小化分層處折射效應帶來的誤差，通過傳播方程與斯涅爾定律的聯立建立介質參數反演的代價函數。然后針對多個自變量的代價函數求導困難的問題，以枚舉法進行大致尋優，獲取初始值，以模式搜索方法進行精確尋優，輸出多層參數的理想解，實現分層介質的精確反演，為后續的地下目標成像與識別檢測提供精確的先驗結構信息。

本發明授權一種探地雷達分層介質參數反演方法在權利要求書中公布了：1.一種探地雷達分層介質參數反演方法，其特征在于，通過CMP方法實現第一層參數反演，然后利用第一層參數反演信息，基于分層介質模型構建不同偏移距下的傳播方程，同時利用斯涅爾定律表示分層界面折射點位置，通過傳播方程與斯涅爾定律的聯立建立介質參數反演的代價函數；獲取近似折射點的位置，然后將近似折射點位置帶入傳播方程的代價函數，構建折射點近似的代價函數；基于折射點近似的代價函數，利用枚舉法實現估計，然后基于斯涅爾定律的代價函數，利用模式搜索方法實現介質參數反演； 通過CMP方法實現第一層參數反演的方式為：建立單層CMP模型，根據不同收發間距下的傳播方程，第一層的相對介電常數與層厚表示為： 其中，m表示探地雷達測量的A-scan道數，d1,εr1分別表示第一層介質的厚度與相對介電常數，εr1,jd1,j分別表示第j組收發間距下求解出的第一層介質的相對介電常數與層厚，j＝1,2,3…m-1； 根據不同收發間距下的傳播方程，對應的最小二乘代價函數為： 其中，m表示探地雷達測量的A-scan道數，n表示分層介質層數，c表示光速，Lj表示第j道A-scan下收發天線的間距，j＝1,2,3…m-1，εri,j,di,j分別表示第j道A-scan下第i層分層介質的相對介電常數與厚度，i＝1,2,3…n，xi,j表示第j道A-scan下第i個分層界面處的折射點位置，Δti,j表示第j道A-scan下第i層界面反射波與空氣直達波的傳播時間差； 基于斯涅爾定律的最小二乘代價函數為： 其中，x1表示第1個分層界面的折射點位置，d1表示第一層介質的厚度。

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