同濟大學;上海同繁勘測工程科技有限公司劉春獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉同濟大學;上海同繁勘測工程科技有限公司申請的專利室內外一體化檢校方法、系統、電子設備及存儲介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116593403B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210843476.6,技術領域涉及:G01N21/25;該發明授權室內外一體化檢校方法、系統、電子設備及存儲介質是由劉春;周驍騰;薛云;周源;曾勇設計研發完成,并于2022-07-18向國家知識產權局提交的專利申請。
本室內外一體化檢校方法、系統、電子設備及存儲介質在說明書摘要公布了:本發明公開了一種室內外一體化檢校方法、系統、電子設備及存儲介質,其中,室內外一體化檢校方法包括:采集室內檢校數據,計算室內檢校數據并建立初始校正模型;其中,初始校正模型包括幾何校正模型和或輻射校正模型;采集室外驗證數據,將室外驗證數據輸入初始校正模型,并得出驗證結果;其中,室外驗證數據與室內檢校數據的數據類型相同;若驗證結果小于或者等于預設誤差,則輸出初始校正模型,初始校正模型用于檢校影像。本發明充分考慮室內室外環境數據對多光譜相機拍攝影像的影響,提出了一套完整的室內室外一體化的檢校方法。
本發明授權室內外一體化檢校方法、系統、電子設備及存儲介質在權利要求書中公布了:1.一種室內外一體化檢校方法,其特征在于,應用于多光譜相機拍攝的影像的檢校,所述室內外一體化檢校方法包括: 采集室內檢校數據,計算所述室內檢校數據并建立初始校正模型;其中,所述初始校正模型包括幾何校正模型和或輻射校正模型; 采集室外驗證數據,將所述室外驗證數據輸入所述初始校正模型,并得出驗證結果;其中,所述室外驗證數據與所述室內檢校數據的數據類型相同; 若驗證結果小于或者等于預設誤差,則輸出所述初始校正模型,所述初始校正模型用于檢校所述影像; 所述采集室內檢校數據,計算所述室內檢校數據并建立初始校正模型的步驟包括: 采集室內輻射檢校數據,并將所述室內輻射檢校數據輸入所述幾何校正模型,輸出修正后的室內輻射檢校數據; 對所述修正后的室內輻射檢校數據進行暗電流檢校、漸暈效應檢校和量子效率擬合的處理,并根據處理結果建立輻射校正模型; 所述室內外一體化檢校方法還包括: 采集室外大氣檢校數據,并將所述室外大氣檢校數據輸入所述幾何校正模型和所述輻射校正模型,輸出修正后的室外大氣檢校數據; 根據零反射率靶標的輻亮度值確定大氣程輻射值; 根據所述大氣程輻射值和所述室外大氣檢校數據,建立大氣校正模型,所述大氣校正模型用于檢校所述影像; 所述室內外一體化檢校方法還包括: 采集室外反射率檢校數據,并將所述室外反射率檢校數據依次輸入所述幾何校正模型、所述輻射校正模型和所述大氣校正模型,輸出修正后的室外反射率檢校數據; 利用暗目標法和經驗線性法,獲取所述大氣程輻射值對應的下行輻亮度值;根據所述下行輻亮度值和所述室外反射率檢校數據,建立反射率校正模型,所述反射率校正模型用于檢校所述影像。
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