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龍圖騰網獲悉華中科技大學申請的專利一種基于自適應分區投影的面結構光三維測量方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN118746261B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202410738975.8，技術領域涉及：G01B11/25；該發明授權一種基于自適應分區投影的面結構光三維測量方法及系統是由鐘凱;李中偉;李家樂;黃錦濤;田鴻業;張攀設計研發完成，并于2024-06-07向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于自適應分區投影的面結構光三維測量方法及系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于自適應分區投影的面結構光三維測量方法及系統，屬于三維測量領域，該方法根據互反射表面光路模型中多次反射光線對正弦結構光柵解相干擾的原理，利用投影儀投影和相機抓取圖像的交互進行反射辨別，基于反射辨別數據，進行待投影結構光圖像的自適應分區，從而分區投影結構光圖像、分區進行高精度三維測量，相對于傳統的面結構光三維測量，這種改進的測量方法有望解決互反射表面測量失效或測量缺失等測量質量問題，高效高精度地獲取互反射表面的三維數據。

本發明授權一種基于自適應分區投影的面結構光三維測量方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種基于自適應分區投影的面結構光三維測量方法，其特征在于，包括： S1，獲取投影儀向待測工件表面投射待投影圖像時左相機和或右相機采集的待測工件圖像； S2，清空像素塊對集合C，根據所述待測工件圖像確定左相機和或右相機的第k個像素點的目標像素塊，清空像素塊集合Bk，并采用相同的劃分方式將各所述目標像素塊劃分為多個子像素塊并加入Bk，無重復地添加Bk中的子像素塊到子像素塊總集合B中，并將Bk中的任意兩個子塊組成的像素塊對無重復地加入像素塊對總集合C中；k＝1,2,…,N，N為左相機和或右相機的像素點總數； 其中，所述第k個像素點的目標像素塊為目標第一列表中的像素塊與Bk中的像素塊的交集，所述目標第一列表為上一次迭代得到的多個第一列表中，使所述第k個像素點的灰度值高于灰度閾值的投影圖像對應的列表； S3，判斷B中各像素塊的大小是否均小于閾值，若是則輸出B、C進入S4，否則以B中的像素塊為節點，以C中的像素塊對為邊，構建圖結構并采用圖著色算法進行求解得到多個第一列表；將各所述第一列表中的所有像素塊在投影儀的全尺寸純色圖像中的對應區域的像素點開啟，其它像素點關閉，得到各所述第一列表對應的圖像；分別將各所述第一列表對應的圖像作為新的待投影圖像，返回S1循環迭代； 其中，第一次迭代時，待投影圖像為投影儀的全尺寸純色圖像，Bk僅包括投影儀的一個全尺寸像素塊，第一列表中的像素塊僅包括投影儀的一張全尺寸純色圖像； S4，以S3輸出的B中的像素塊為節點，以S3輸出的C中的像素塊對為邊，構建圖結構并對其運用圖著色算法進行求解得到多個第二列表，將各所述第二列表中的所有像素塊在投影儀的全尺寸結構光圖像中的對應區域的像素點開啟，其它像素點關閉，得到各所述第二列表對應的圖像，分別將其作為待投影圖像用于投射至待測工件表面，并獲取由左、右相機同時采集得到的待測工件圖像，計算相位圖并進行匹配，重建待測工件的三維點云，將所有重建的三維點云進行融合得到所述待測工件的整體三維點云。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華中科技大學，其通訊地址為：430074 湖北省武漢市洪山區珞喻路1037號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。