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龍圖騰網獲悉華中科技大學申請的專利一種基于權重函數和多曝光融合的分析檢測方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119273605B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411383854.2，技術領域涉及：G06T5/90；該發明授權一種基于權重函數和多曝光融合的分析檢測方法及裝置是由楊海;田昌敏;郭文勝;楊祥良設計研發完成，并于2024-09-30向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于權重函數和多曝光融合的分析檢測方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于權重函數和多曝光融合的分析檢測方法及裝置，屬于免疫層析分析檢測領域。該分析檢測方法包括在多個多曝光時間序列下得到多曝光圖像集，在恢復圖像采集系統的相機響應函數過程中，使用基于多曝光融合的HDR算法，通過采用分段權重函數調節不同曝光圖像的權重，通過精細調控分段權重函數參數，以更精細地反映免疫層析中各濃度區段的特性，建立最優權重函數增強相機響應函數擬合的準確性，從而恢復出最高質量的免疫層析HDR圖像，提高定量檢測的線性范圍。

本發明授權一種基于權重函數和多曝光融合的分析檢測方法及裝置在權利要求書中公布了：1.一種基于權重函數和多曝光融合的分析檢測方法，其特征在于，包括： 在多曝光時間序列下拍攝待測試紙卡，得到待測試紙卡的多曝光圖像集； 根據標準濃度定量曲線、待測試紙卡的多曝光圖像集和對應的曝光時間，得到待測試紙卡的實際濃度值； 所述標準濃度定量曲線的生成方法包括： S1、拍攝X張不同濃度的標準免疫層析試紙卡的P個多曝光時間序列，得到多曝光圖像集；將所述多曝光圖像集分為包括X1張標準免疫層析試紙卡圖像的第一多曝光圖像集和包括X2張標準免疫層析試紙卡圖像的第二多曝光圖像集；其中，P≥3，X＝X1+X2； S2、從所述第一多曝光圖像集中各圖像的T線區域中獲取N個像素點的灰度值變化，得到N×P個像素點的灰度值矩陣； S3、構建如下分段權重函數： 其中，f1z和f2z的函數形式包括線性函數、二次多項式函數、指數函數或對數函數，z1和z2為分段點； S4、確定使得T線區域的平均像素值與真實像素值間誤差最小的f1z和f2z的函數形式以及分段點z1和z2，得到目標分段權重函數；T線區域的平均像素值的計算方式包括：根據分段權重函數結合灰度值矩陣得到相機響應函數；根據所述相機響應函數、第二多曝光圖像集和對應的曝光時間，獲取HDR圖像；對HDR圖像進行色調映射，得到T線區域的平均像素值； S5、根據目標分段權重函數結合灰度值矩陣得到目標相機響應函數； S6、根據目標相機響應函數、標準免疫層析試紙卡的多曝光圖像集和對應的曝光時間，得到標準免疫層析試紙卡的T線區域的平均像素值，將標準免疫層析試紙卡的T線區域的平均像素值與對應濃度擬合生成標準濃度定量曲線。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華中科技大學，其通訊地址為：430074 湖北省武漢市洪山區珞喻路1037號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。