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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利基于影響函數迭代更新的主動光學校正量閉環求解方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119441677B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411548565.3，技術領域涉及：G06F17/10；該發明授權基于影響函數迭代更新的主動光學校正量閉環求解方法是由董得義;肖君澤;薛棟林;李超;孫宇欣;李佳;李奕博;張學軍設計研發完成，并于2024-11-01向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于影響函數迭代更新的主動光學校正量閉環求解方法在說明書摘要公布了：本發明涉及一種基于影響函數迭代更新的主動光學校正量閉環求解方法，該方法采集各促動單元的初始影響函數并進行異常點替換；波前傳感系統檢測得到系統波前像差，根據理想狀態下系統波前像差和初始標準影響函數關系解算得到每個促動單元上應該施加的電壓，并施加到對應的促動單元上；再次對系統波前像差進行檢測，根據實際狀態下的控制面形殘差與理想狀態下的控制面形殘差之差解算出每個影響函數的偏移系數，根據偏移系數對每個影響函數進行一次更新，得到新影響函數，以新影響函數作為下一輪調控中的初始標準影響函數，實現波前校正器的校正量閉環求解。本發明實現了影響函數的實時迭代更新，提高了主動光學校正量的解算精準性。

本發明授權基于影響函數迭代更新的主動光學校正量閉環求解方法在權利要求書中公布了：1.基于影響函數迭代更新的主動光學校正量閉環求解方法，其特征在于，包括以下步驟： 步驟1：采集當前波前校正器中每個促動單元的初始影響函數I0nx，y，并對初始影響函數I0nx，y進行異常點替換，得到每個促動單元的初始標準影響函數Inx，y，其中n為促動單元的編號，n＝0,1,2,…,N； 步驟2：利用波前傳感系統檢測得到校正前的系統波前像差W1x，y，并根據理想狀態下系統波前像差W1x，y、每個促動單元的初始標準影響函數Inx，y以及每個促動單元上施加的電壓vn之間的矩陣方程，解算得到每個促動單元上應該施加的電壓v1n，進而分別得到理想狀態下的控制面形和控制面形殘差ΔWidealx,y，同時根據解算得到的電壓n1n施加到對應的促動單元上，控制鏡面發生相應的形變； 步驟3：波前傳感系統再次對系統波前像差進行檢測，得到實際狀態下的控制面形和控制面形殘差ΔWrealx,y，并將實際狀態下的控制面形殘差ΔWrealx,y與理想狀態下的控制面形殘差ΔWidealx,y作差，得到ΔWpx,y，公式如下： ΔWpx,y＝ΔWrealx,y-ΔWidealx,y13 代入每部分控制面形殘差的計算表達式，整理后得到： 其中，kn為第n個影響函數的偏移系數； 步驟4：根據公式14所示的ΔWpx,y和本輪調控所使用的影響函數的關系解算出每個影響函數的偏移系數，并根據偏移系數對每個影響函數進行一次更新，得到新影響函數，然后返回步驟2，以新影響函數作為下一輪調控中的初始標準影響函數，重復步驟2至步驟4，實現波前校正器的校正量閉環求解。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，其通訊地址為：130033 吉林省長春市東南湖大路3888號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。